[发明专利]一种磁盘阵列IO分配系统及方法有效
| 申请号： | 201710852816.0 | 申请日： | 2017-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN107544759B | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 王志浩 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06;G06F11/07 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁盘阵列IO分配系统及方法，通过磁盘读写测试模块分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试，得出测试结果，比较各个测试项的测试结果与相应预设值的大小，当测试项的测试结果小于预设值时，将测试项的测试结果反馈至管理模块；管理模块根据所接收到的测试项的测试结果，确定出磁盘是否存在读写性能缺陷，并规避给存在读写性能缺陷的磁盘分配与读写性能缺陷对应的读写IO，可见，本发明规避向出现某种或某些读写性能损耗的磁盘分配与读写性能损耗类别相应的读写IO，可以提高机械盘的使用效率和磁盘阵列的读写速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁盘阵列 io 分配 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种磁盘阵列IO分配系统，其特征在于，包括管理模块、磁盘读写测试模块及机械盘存储模块；所述磁盘读写测试模块用于分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试，得出各个所述磁盘的各个测试项的测试结果；比较各个所述测试项的测试结果与相应预设值的大小，当所述测试项的测试结果小于所述预设值时，将所述测试项的测试结果反馈至所述管理模块；所述管理模块用于根据所接收到的所述测试项的测试结果，确定出所述磁盘是否存在读写性能缺陷，并规避给存在所述读写性能缺陷的所述磁盘分配与所述读写性能缺陷对应的读写IO，所述读写性能缺陷为至少包括4K随机读写性能缺陷、4K连续读写性能缺陷、256K随机读写性能缺陷及256K连续读写性能缺陷的多种读写性能缺陷的任意一种或任意组合。
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