[发明专利]一种磁盘阵列IO分配系统及方法

说明书

本发明公开了一种磁盘阵列IO分配系统及方法，通过磁盘读写测试模块分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试，得出测试结果，比较各个测试项的测试结果与相应预设值的大小，当测试项的测试结果小于预设值时，将测试项的测试结果反馈至管理模块；管理模块根据所接收到的测试项的测试结果，确定出磁盘是否存在读写性能缺陷，并规避给存在读写性能缺陷的磁盘分配与读写性能缺陷对应的读写IO，可见，本发明规避向出现某种或某些读写性能损耗的磁盘分配与读写性能损耗类别相应的读写IO，可以提高机械盘的使用效率和磁盘阵列的读写速度。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别涉及一种磁盘阵列IO分配系统及方法。

背景技术

随着存储技术以及需求的不断发展，机械磁盘的应用也越来越广泛。

当前，诸如SATA机械盘等是磁盘阵列的常见组成部分。磁盘阵列中的机械盘在运行过程中，有时会出现读写性能损耗，其导致原因可能是内部或外部因素。内部因素可能是机械盘的构成，即机械盘本身的构造导致了机械盘在震动的时候可能会对性能造成很大的影响；外部因素可能是其它机械盘的震动或者是其它，例如，在磁盘阵列中，众多机械盘自身马达的转动和风扇散热的震动都是不可避免的，这样就容易导致某些硬盘的读写能力产生不小的损耗。

某些硬盘出现读写性能损耗，如果不加以分辨、规避，必定会影响到整个磁盘阵列的读写速度的。因此，如何分辨出磁盘阵列中的硬盘哪种读写性能出现损耗，并加以规避是本领域需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种磁盘阵列IO分配系统及方法，以解决现有磁盘阵列中机械盘出现读写性能损耗进而导致整个磁盘阵列的读写速度和使用效率较低的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种磁盘阵列IO分配系统，包括管理模块、磁盘读写测试模块及机械盘存储模块；

所述磁盘读写测试模块用于分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试，得出各个所述磁盘的各个测试项的测试结果；比较各个所述测试项的测试结果与相应预设值的大小，当所述测试项的测试结果小于所述预设值时，将所述测试项的测试结果反馈至所述管理模块；

所述管理模块用于根据所接收到的所述测试项的测试结果，确定出所述磁盘是否存在读写性能缺陷，并规避给存在所述读写性能缺陷的所述磁盘分配与所述读写性能缺陷对应的读写IO，所述读写性能缺陷为至少包括4K随机读写性能缺陷、4K连续读写性能缺陷、256K随机读写性能缺陷及256K连续读写性能缺陷的多种读写性能缺陷的任意一种或任意组合。

可选地，还包括迁移模块，用于当符合预设迁移条件时，将存在所述读写性能缺陷的所述磁盘内的对应数据块迁移至预设磁盘进行存储。

可选地，所述管理模块包括比对子模块，用于将当前磁盘的各个所述测试项的测试结果与所有磁盘对应的测试项的测试结果进行对比，确定所述当前磁盘是否存在所述读写性能缺陷。

可选地，所述磁盘读写测试模块还包括修改子模块，用于接收用户的修改指令，修改各个所述测试项的数据块大小。

可选地，还包括日志模块，用于记录所述测试结果。

可选地，还包括报警模块，用于当所述磁盘所述测试项的测试结果偏离所述预设值达到预设阈值时，发出报警信息。

一种磁盘阵列IO分配方法，包括：