[发明专利]一种磁盘阵列IO分配系统及方法有效
申请号: | 201710852816.0 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN107544759B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 王志浩 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F11/07 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁盘阵列 io 分配 系统 方法 | ||
1.一种磁盘阵列IO分配系统,其特征在于,包括管理模块、磁盘读写测试模块及机械盘存储模块;
所述磁盘读写测试模块用于分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试,得出各个所述磁盘的各个测试项的测试结果;比较各个所述测试项的测试结果与相应预设值的大小,当所述测试项的测试结果小于所述预设值时,将所述测试项的测试结果反馈至所述管理模块;
所述管理模块用于根据所接收到的所述测试项的测试结果,确定出所述磁盘是否存在读写性能缺陷,并规避给存在所述读写性能缺陷的所述磁盘分配与所述读写性能缺陷对应的读写IO,所述读写性能缺陷为至少包括4K随机读写性能缺陷、4K连续读写性能缺陷、256K随机读写性能缺陷及256K连续读写性能缺陷的多种读写性能缺陷的任意一种或任意组合;所述读写性能缺陷指所述测试项的测试结果小于所述预设值;
所述管理模块包括比对子模块,用于将当前磁盘的各个所述测试项的测试结果与所有磁盘对应的测试项的测试结果进行对比,确定所述当前磁盘是否存在所述读写性能缺陷。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括迁移模块,用于当符合预设迁移条件时,将存在所述读写性能缺陷的所述磁盘内的对应数据块迁移至预设磁盘进行存储。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述磁盘读写测试模块还包括修改子模块,用于接收用户的修改指令,修改各个所述测试项的数据块大小。
4.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括日志模块,用于记录所述测试结果。
5.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括报警模块,用于当所述磁盘所述测试项的测试结果偏离所述预设值达到预设阈值时,发出报警信息。
6.一种磁盘阵列IO分配方法,其特征在于,包括:
磁盘读写测试模块分别对磁盘阵列各个磁盘进行至少包括4K随机读写测试、4K连续读写测试、256K随机读写测试及256K连续读写测试的读写性能测试,得出各个所述磁盘的各个测试项的测试结果;比较各个所述测试项的测试结果与相应预设值的大小,当所述测试项的测试结果小于所述预设值时,将所述测试项的测试结果反馈至管理模块;
所述管理模块根据所接收到的所述测试项的测试结果,确定出所述磁盘是否存在读写性能缺陷,并规避给存在所述读写性能缺陷的所述磁盘分配与所述读写性能缺陷对应的读写IO,所述读写性能缺陷为至少包括4K随机读写性能缺陷、4K连续读写性能缺陷、256K随机读写性能缺陷及256K连续读写性能缺陷的多种读写性能缺陷的任意一种或任意组合;所述读写性能缺陷指所述测试项的测试结果小于所述预设值;
其中,所述根据所接收到的所述测试项的测试结果,确定出所述磁盘存在读写性能缺陷包括:
所述管理模块将当前磁盘的各个所述测试项的测试结果与所有磁盘对应的测试项的测试结果进行对比,确定所述当前磁盘是否存在所述读写性能缺陷。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述确定出所述磁盘存在读写性能缺陷之后还包括:
当符合预设迁移条件时,迁移模块将存在所述读写性能缺陷的所述磁盘内的对应数据块迁移至预设磁盘进行存储。
8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括:
所述磁盘读写测试模块接收用户的修改指令,修改各个所述测试项的数据块大小。
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