[发明专利]一种LED芯片光功率的测试方法有效

专利信息
申请号: 201710828420.2 申请日: 2017-09-14
公开(公告)号: CN107515043B 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 吴永军;潘尧波;刘亚柱;唐军;吕振兴 申请(专利权)人: 合肥彩虹蓝光科技有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 王华英
地址: 230011 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明提供一种LED芯片光功率的测试方法,包括以下步骤:在相同条件下生长待测试LED芯片和纯热阻芯片,其中,纯热阻芯片在生长发光量子阱时不进行In掺杂,以保证纯热阻芯片工作时不会发光;在相同条件下计算待测试LED芯片的输入功率W1和纯热阻芯片的输入功率W2,所述纯热阻芯片的输入功率W2即待测试LED芯片的热功率;计算待测试LED芯片的光功率=W1-W2。本发明计算出的待测试LED芯片光功率与电功率相对应,测试值真实性高;该方法不需要再次定标,不受测试设备种类、新旧及标定系数影响;可应用于全波段光功率的测试,尤其是深紫外芯片的光功率测试;该方法可以准确推算出光功率/热功率占比,对LED理论探索有指导性意义。
搜索关键词: 一种 led 芯片 功率 测试 方法
【主权项】:
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