[发明专利]一种基于主动轮廓和能量约束的筛板前表面深度测量方法有效
| 申请号： | 201710810756.6 | 申请日： | 2017-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN107657605B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 陈再良;彭鹏;沈海澜;刘晴;魏浩;段宣初;欧阳平波;廖胜辉 | 申请（专利权）人： | 中南大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/50 |
| 代理公司： | 43114 长沙市融智专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 龚燕妮<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 410083 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于主动轮廓和能量约束的筛板前表面深度测量方法，该方法采用基于k均值聚类和主动轮廓的Bruch膜开口点测定方法和基于能量约束的筛板前表面分割方法，首先将k均值聚类的聚类图作为C‑V主动轮廓模型的初始轮廓，提取出轮廓中的Bruch膜开口点，再根据开口点的位置得到筛板前表面分割的感兴趣区域，使用能量约束方法分割出筛板前表面，最后根据两个步骤的结构测量出筛板前表面深度。该方法所得结果优于现有的方法，并与专家手工标定结果相一致，能够解决专家在临床诊断时需要手动标定测量筛板前表面深度的费时费力的问题，对青光眼的早期筛查和临床诊断具有积极意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 主动 轮廓 能量 约束 筛板 表面 深度 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于主动轮廓和能量约束的筛板前表面深度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1：将待检测的灰度图像进行反色处理后，对反色处理图像中的所有像素点采用k均值聚类方法进行聚类，得到聚类图；/n步骤2：构造C-V主动轮廓模型的能量函数，利用聚类图的轮廓作为C-V主动轮廓模型的初始曲线，以C-V主动轮廓模型的能量函数最小时的曲线作为目标轮廓，以目标轮廓的下边界的终止点作为Bruch’s Membrane Opening点，连接两个Bruch’s Membrane Opening点得到Bruch’s Membrane Opening参考投影线；/n步骤3：从反射处理图像中选取位于Bruch’s Membrane Opening参考投影线以下的区域，以所选区域对应的最小矩形区域作为筛板前表面分割的感兴趣区域，其中，所选区域的上边界为Bruch’s Membrane Opening参考投影线的在水平方向上的投影线；/n步骤4：基于能量函数从感兴趣区域中各列中提取一个筛板前表面候选点，并依据完整性约束条件，对所有的筛板前表面候选点进行剔除处理，得到控制点集；将控制点集进行曲线拟合得到筛板表面轮廓线；/n步骤5：基于Bruch’s Membrane Opening参考投影线和筛板表面轮廓线，计算筛板前表面深度；/n以Bruch’s Membrane Opening参考投影线的中点及其鼻侧和颞侧各100微米的两个点作为测量点，在三个测量点上对Bruch’s Membrane Opening参考投影线作垂线并与筛板前表面轮廓线相交，三条垂线长度的平均值为待测量的筛板前表面深度。/n
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