[发明专利]晶片清洗设备及应用其的晶片清洗方法在审
申请号: | 201710778442.2 | 申请日: | 2017-09-01 |
公开(公告)号: | CN109427613A | 公开(公告)日: | 2019-03-05 |
发明(设计)人: | 蔡傅守;许力介;林永溢;李昆儒;黄柏诚 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开一种晶片清洗设备及应用其的晶片清洗方法。晶片清洗设备包括机架、一对清洗元件及驱动模块。该对清洗元件配置在机架且包括沿一轴向相对排列的一第一清洗件与一第二清洗件,其中第一清洗件与第二清洗件用以分别清洗晶片的相对二面,轴向为晶片的转动轴向。驱动模块用以驱动该对清洗元件与晶片的至少一者,使该对清洗元件与晶片沿第一径向与第二径向至少一者进行相对运动。如此,可有效清除晶片及清洗件上的颗粒。 | ||
搜索关键词: | 清洗件 清洗元件 晶片 晶片清洗设备 晶片清洗 驱动模块 清洗晶片 清洗设备 相对排列 转动轴 一轴 种晶 轴向 应用 驱动 配置 | ||
【主权项】:
1.一种晶片清洗设备,用于清洗一晶片,其特征在于,该晶片清洗设备包括:机架;一对清洗元件,配置在该机架,且包括沿一轴向相对排列的第一清洗件与第二清洗件,其中该第一清洗件与该第二清洗件用以分别清洗该晶片的相对二面,该轴向为该晶片的转动轴向;以及驱动模块,用以驱动该对清洗元件与该晶片的至少一者,使该对清洗元件与该晶片沿一第一径向与一第二径向的至少一者相对运动,该第一径向、该第二径向与该轴向彼此垂直。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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