[发明专利]晶片清洗设备及应用其的晶片清洗方法在审

专利信息
申请号: 201710778442.2 申请日: 2017-09-01
公开(公告)号: CN109427613A 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 蔡傅守;许力介;林永溢;李昆儒;黄柏诚 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开一种晶片清洗设备及应用其的晶片清洗方法。晶片清洗设备包括机架、一对清洗元件及驱动模块。该对清洗元件配置在机架且包括沿一轴向相对排列的一第一清洗件与一第二清洗件,其中第一清洗件与第二清洗件用以分别清洗晶片的相对二面,轴向为晶片的转动轴向。驱动模块用以驱动该对清洗元件与晶片的至少一者,使该对清洗元件与晶片沿第一径向与第二径向至少一者进行相对运动。如此,可有效清除晶片及清洗件上的颗粒。
搜索关键词: 清洗件 清洗元件 晶片 晶片清洗设备 晶片清洗 驱动模块 清洗晶片 清洗设备 相对排列 转动轴 一轴 种晶 轴向 应用 驱动 配置
【主权项】:
1.一种晶片清洗设备,用于清洗一晶片,其特征在于,该晶片清洗设备包括:机架;一对清洗元件,配置在该机架,且包括沿一轴向相对排列的第一清洗件与第二清洗件,其中该第一清洗件与该第二清洗件用以分别清洗该晶片的相对二面,该轴向为该晶片的转动轴向;以及驱动模块,用以驱动该对清洗元件与该晶片的至少一者,使该对清洗元件与该晶片沿一第一径向与一第二径向的至少一者相对运动,该第一径向、该第二径向与该轴向彼此垂直。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710778442.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top