[发明专利]气溶胶质谱仪在审
| 申请号： | 201710767904.0 | 申请日： | 2017-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN109427535A | 公开（公告）日： | 2019-03-05 |
| 发明（设计）人： | 孙延锋;姜杰;郭健;顾大伟 | 申请（专利权）人： | 天源华威集团有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/02 | 分类号： | H01J49/02;H01J49/04 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 谈杰 |
| 地址： | 212000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种可以同时检测大气气溶胶粒径、浓度和化学成分的气溶胶质谱仪，该气溶胶质谱仪采用直径约100微米的采样孔对自然环境下的气溶胶进行直接采样；气溶胶颗粒经气动聚焦透镜聚焦成一直径约0.5毫米的颗粒束流；气溶胶颗粒由一个粒径选择器进行选择；粒径选择器由三个带狭缝的同轴转盘组成；粒径选择器的转盘由同步电机驱动；同步电机电源的频率连续可调；经粒径选择器选择的气溶胶颗粒由高温(600‑700℃)气化器气化；气化后的气体由电子碰撞电离器电离；产生的离子由W型反射式质谱装置检测，即得到气溶胶的质谱。通过分析采样速率、同步电机电源的频率和获得的质谱可以得到有机气溶胶的粒径、浓度和化学组成的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 粒径选择 气溶胶质谱仪 气溶胶颗粒 同步电机 气溶胶 粒径 质谱 电源 反射式质谱装置 电子碰撞电离 大气气溶胶 气化器气化 有机气溶胶 化学组成 聚焦透镜 连续可调 同轴转盘 直接采样 电离 采样孔 检测 采样 径约 气化 束流 狭缝 转盘 离子 自然环境 聚焦 驱动 分析 | ||
【主权项】：
1.气溶胶质谱仪，由束源室、粒径测量室、气化电离室、和W型反射式质谱装置组成，其特征在于：束源室，粒径测量室、气化电离室和W型反射式质谱装置依次相连接，束源室与粒径测量室之间和粒径测量室与气化电离室之间有小孔相连接，W型反射式质谱装置与束源室、粒径测量室、气化电离室平行；在束源室中，安装有气溶胶气动聚焦透镜组，粒径测量室中装有粒径选择器，气化电离室中装有高温气化器和电子碰撞电离器；束源室，粒径测量室，气化电离室和W型反射式质谱装置上均连接有分子泵，分子泵连接有隔膜泵。
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