[发明专利]基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置有效
| 申请号： | 201710686539.0 | 申请日： | 2017-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN107607612B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 黄松岭;彭丽莎;赵伟;王珅;于歆杰;李世松 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N27/83 | 分类号： | G01N27/83 |
| 代理公司： | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张润<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置，其中，该方法包括：首先，获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量；接着，对垂直分量进行识别，判定缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；接着，根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型；接着，将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型；最后，根据各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。该方法只需对漏磁信号的垂直分量进行计算分析，通过判定各个直角的直角特征、在缺陷几何拓扑图中进行遍历搜寻等操作，实现缺陷轮廓识别，具有较好的识别效果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 信号 垂直 分量 缺陷 轮廓 识别 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法，其特征在于，包括：/n获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量；/n对所述垂直分量进行识别，判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；/n根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型；/n将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型；/n根据所述各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制所述缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。/n
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