[发明专利]基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置

权利要求书

1.一种基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法，其特征在于，包括：

获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量；

对所述垂直分量进行识别，判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；

根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型；

将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型；

根据所述各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制所述缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型包括：

将各个直角位置点的可能的直角类型进行排列组合；

根据排列组合结果构建缺陷几何拓扑图；

遍历所述缺陷几何拓扑图；

在从所述缺陷几何拓扑图中获取的组合结果对应的缺陷为闭合缺陷时，停止遍历；

将所述闭合缺陷中各个直角位置点对应的直角类型确定为各个直角位置点对应的最佳直角类型。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述直角特征包括第一类直角特征和第二类直角特征；

所述第一类直角特征包括四种第一直角类型，四种所述第一直角类型分别为开口角度为0°～90°的直角、开口角度为0°～270°的直角、开口角度为180°～270°的直角、开口角度为180°～90°的直角；

所述第二类直角特征包括四种第二直角类型，四种所述第二直角类型分别为开口角度为90°～180°的直角、开口角度为270°～360°的直角、开口角度为270°～180°的直角、开口角度为90°～360°的直角；

其中，所述开口角度是以沿磁化方向为起始角按顺时针旋转得到。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对所述垂直分量进行识别之前，还包括：

确定对所述垂直分量进行识别的识别模式；

在确定所述识别模式为人工识别模式时，则根据对所述垂直分量进行观察判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；

在确定所述识别模式为自动识别模式时，则根据对所述垂直分量的包络信号判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据对所述垂直分量进行观察判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点，包括：

对所述垂直分量进行观察；

在观察到所述垂直分量中存在呈现明显向上凸起的波峰状信号以及所述波峰的等高线基本呈圆形时，判定直角特征为第一类直角特征，相应地，呈现明显向上凸起的波峰状信号中的信号最大值点对应的位置判定为直角位置点；

在观察到所述垂直分量中存在呈现显向下凹陷的波谷状信号及所述波谷的等高线基本呈圆形时，判定直角特征为第二类直角特征，相应地，呈现显向下凹陷的波谷状信号中的信号最小值对应的位置判定为直角位置点。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据对所述垂直分量的包络信号判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点，包括：

获取所述垂直分量的包络信号；

对所述包络信号进行幅值分析并判断所述包络信号的信号幅值是否均大于零或均小于零；

在确定所述包络信号的信号幅值均大于零时，判定直角特征为第一类直角特征，包络信号的信号幅值最大值对应的位置为直角位置点；

在确定所述包络信号的信号幅值均小于零时，判定直角特征为第二类直角特征，包络信号的信号幅值最小值对应的位置为直角位置点。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取所述垂直分量的包络信号，包括：

对所述垂直分量进行灰度化图像处理以获取所述垂直分量的灰度图像；

对所述灰度图像进行canny边缘检测以获取所述垂直分量的包络信号。

8.如权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述垂直分量为缺陷的漏磁信号在检测平面上垂直于磁化方向上的信号分量，所述检测平面为磁传感器检测阵列的扫描平面。