[发明专利]基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置

说明书

本发明公开了基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置，其中，该方法包括：首先，获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量；接着，对垂直分量进行识别，判定缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；接着，根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型；接着，将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型；最后，根据各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。该方法只需对漏磁信号的垂直分量进行计算分析，通过判定各个直角的直角特征、在缺陷几何拓扑图中进行遍历搜寻等操作，实现缺陷轮廓识别，具有较好的识别效果。

技术领域

本发明涉及漏磁检测技术领域，尤其涉及一种基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法及装置。

背景技术

缺陷轮廓识别是漏磁检测技术的关键环节，对于缺陷评估具有重要作用。漏磁信号表征为三维漏磁信号，包括水平分量、法向分量、垂直分量，其中漏磁信号的垂直分量相较于其水平分量和法向分量，信号强度弱且难以直观体现缺陷边界，因此很少被单独应用于漏磁检测及其缺陷轮廓识别技术中。目前常用的漏磁检测方案和缺陷识别方法大都是基于漏磁信号的水平分量、法向分量或其综合信号开展设计和研究的。然而漏磁信号的垂直分量对缺陷直角具有很高的检测灵敏度，且对于不同的缺陷直角类型，具有不同的信号特征，因此可以利用漏磁信号的垂直分量这一特性对缺陷直角类型进行判断，进而实现缺陷轮廓识别，这对于充分挖掘和利用漏磁信号中的垂直分量信息，实现对缺陷直角特征的准确定位和识别具有重要意义。目前尚未为利用漏磁信号的垂直分量的直角特征信息实现缺陷轮廓识别的方法。

发明内容

本发明的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法，首先，获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量；接着，对垂直分量进行识别，判定缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；接着，根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型；接着，将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型；最后，根据各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。该方法只需对漏磁信号的垂直分量进行计算分析，通过判定各个直角的直角特征、在缺陷几何拓扑图中进行遍历搜寻等操作，实现缺陷轮廓识别，具有较好的识别效果，且为基于三维漏磁信号的缺陷轮廓特征识别，提供了有效准确的缺陷直角特征等相关信息，方法简单、缺陷直角识别率高。

本发明的第二个目的在于提出一种基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别装置。

为了实现上述目的，本发明第一方面实施例的基于漏磁信号的垂直分量的缺陷轮廓识别方法，包括：

获取待识别缺陷的漏磁信号的垂直分量；

对所述垂直分量进行识别，判定所述缺陷的各个直角的直角特征和直角位置点；

根据所述直角特征获取所述缺陷的各个直角位置点的可能的直角类型；

将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型；

根据所述各个直角位置点对应的最佳直角类型绘制所述缺陷的轮廓以完成缺陷轮廓识别。

如上所述的方法，所述将各个可能的直角类型在对应的直角位置点进行遍历，确定各个直角位置点对应的最佳直角类型包括：

将各个直角位置点的可能的直角类型进行排列组合；

根据排列组合结果构建缺陷几何拓扑图；

遍历所述缺陷几何拓扑图；

在从所述缺陷几何拓扑图中获取的组合结果对应的缺陷为闭合缺陷时，停止遍历；