[发明专利]一种杂粮作物籽粒三轴尺寸快速检测算法

摘要

本发明涉及一种杂粮作物籽粒三轴尺寸快速检测算法，包括将多个待测杂粮作物籽粒和一枚标准尺寸的硬币平放后置于红色LED背光源下，采集待测杂粮作物籽粒和标准尺寸硬币的投影图像；将该投影图像转换为灰度图像，再转换为二值图像及其负片；绘制每个待测杂粮作物籽粒的最小外接矩形，以得到投影图像下最小外接矩形的长度尺寸值和宽度尺寸值；将多个待测杂粮作物籽粒和标准尺寸的硬币直线摆放后置于红色LED背光源下，采集待测杂粮作物籽粒和标准尺寸的硬币的侧视图像后，得到侧视图像下最小外接矩形的竖直方向尺寸值，即高度尺寸值。通过本发明的技术方案，能够解决现有杂粮作物籽粒三轴尺寸测量技术中人工测量带来的测量误差大、效率低的问题。

主权项

一种杂粮作物籽粒三轴尺寸快速检测算法，其特征在于，包括：步骤S1、将多个待测杂粮作物籽粒和一枚标准尺寸的硬币平放后置于红色LED背光源下，采集待测杂粮作物籽粒和标准尺寸的硬币的投影图像；其中，所述标准尺寸的硬币作为杂粮籽粒尺寸测量的标定物；步骤S2、读取所述多个待测杂粮作物籽粒的投影图像，并将该投影图像转换为灰度图像；步骤S3、利用自动阈值法将所述灰度图像转换为二值图像；步骤S4、去除所述二值图像中的噪点，得到去噪后的二值图像；步骤S5、获取所述去噪后的二值图像的负片；步骤S6、将所述多个待测杂粮作物籽粒和标准尺寸的硬币进行标记；步骤S7、绘制每个待测杂粮作物籽粒的最小外接矩形；步骤S8、根据所述标准尺寸的硬币，其单位像素所对应的实际尺寸值及所述最小外接矩形的长度像素值和宽度像素值，以得到投影图像下最小外接矩形以毫米为单位的长度尺寸值和宽度尺寸值；其中，待测杂粮作物籽粒的实际长度尺寸值＝投影图像下最小外接矩形的长度尺寸值，待测杂粮作物籽粒的实际宽度尺寸值＝投影图像下最小外接矩形的宽度尺寸值；步骤S9、将所述多个待测杂粮作物籽粒和标准尺寸的硬币直线竖直摆放后置于红色LED背光源下，采集待测杂粮作物籽粒和标准尺寸的硬币的侧视图像后，返回步骤S2，得到侧视图像下最小外接矩形竖直方向的尺寸值；其中，待测杂粮作物籽粒的实际高度尺寸值＝侧视图像下最小外接矩形竖直方向的尺寸值。