[发明专利]形成高k接触衬垫以改善有效贯孔间隔距离的方法有效
| 申请号: | 201710660704.5 | 申请日: | 2017-08-04 |
| 公开(公告)号: | CN107689344B | 公开(公告)日: | 2019-10-01 |
| 发明(设计)人: | 古拉密·波奇;安迪·C·韦;杰森·E·史蒂芬斯;D·M·佩尔马纳;J·瓦苏德万 | 申请(专利权)人: | 格罗方德半导体公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/8234;H01L23/538;H01L27/088 |
| 代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
| 地址: | 英属开曼群*** | 国省代码: | 开曼群岛;KY |
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| 摘要: | 本发明涉及形成高k接触衬垫以改善有效贯孔间隔距离的方法及其产生的装置,其中,一种方法包括形成位在第一介电层中的第一与第二接触开口。至少第一接触开口与衬垫层至少部分排齐。第一传导特征是在第一接触开口中形成,并且第二传导特征是在第二接触开口中形成。移除与第一介电层的顶端表面相邻的衬垫层的一部分以界定凹口。在第一介电层上面及凹口中形成阻障层。该阻障层具有比该第一介电层的第二介电常数更大的第一介电常数。在该阻障层上面形成第二介电层。形成嵌埋于该第二介电层中并且接触该第二传导特征的第三传导特征。 | ||
| 搜索关键词: | 形成 接触 衬垫 改善 有效 间隔 距离 方法 及其 产生 装置 | ||
【主权项】:
1.一种形成集成电路的方法,该方法包含:形成位于鳍片上面的多个栅极结构,形成介于该多个栅极结构其中两个相邻者之间的牺牲接触部,其中,该牺牲接触部具有布置于其顶端表面上的硬掩膜层;形成位于该牺牲接触部及该硬掩膜层的两侧上、位于该硬掩膜层的顶端表面上,以及位于该多个栅极结构上面的衬垫层;形成位于该衬垫层上面的第一介电层;平坦化该第一介电层以使该硬掩膜层曝露及移除布置于该硬掩膜层的该顶端表面上的该衬垫层的一部分,且使该第一介电层的上表面对齐于该衬垫层的上表面,其中,该衬垫层的部分残留于该牺牲接触部及该硬掩膜层的该两侧上;移除该硬掩膜层以及该牺牲接触部以界定开口;通过以图型层填充该开口、蚀刻该图型层的一部分及该第一介电层的一部分后,剥除该图型层来形成位在该第一介电层中的第一接触开口与第二接触开口,其中,该第二接触开口曝露该多个栅极结构的其中一者;形成位于该第一接触开口中的第一传导特征以及位于该第二接触开口中的第二传导特征,其中,该第一传导特征接触布置于该多个栅极结构其中两个相邻者之间的该鳍片的第一源极与漏极区,并且该第二传导特征接触该多个栅极结构的其中一者;移除该衬垫层与该第一介电层的该上表面相邻的一部分以界定凹口;形成位于该第一介电层上面且位于该凹口中的阻障层,该阻障层具有比该第一介电层的第二介电常数更大的第一介电常数;形成位于该阻障层上面的第二介电层,以及形成嵌埋于该第二介电层中并且接触该第二传导特征的第三传导特征。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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