[发明专利]一种碲镉汞薄膜组分的测试方法有效
| 申请号： | 201710647279.6 | 申请日： | 2017-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN107576629B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 许秀娟;高达;折伟林;王经纬 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563 |
| 代理公司： | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人： | 田卫平 |
| 地址： | 100015*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种碲镉汞薄膜组分的测试方法，包括：将待处理的碲镉汞薄膜固定在样品台上，并将样品台放入红外光谱仪的样品腔室中；对样品腔室和红外光谱仪分别抽真空，再将样品腔室温度降至预定温度；启动红外光谱仪，按照预定调节范围调节红外光谱仪的预定参数，并按照调节后的预定参数对待处理的碲镉汞薄膜进行光致发光测试得到光谱图，并根据光谱图对待处理的碲镉汞薄膜组分进行分析。该方法采用红外光谱仪对碲镉汞薄膜进行光致发光测试得到光谱图，并根据光谱图对碲镉汞薄膜组分进行分析，相较于采用光学薄膜分析软件对碲镉汞薄膜组分进行拟合计算，可以更准确快速的得到碲镉汞薄膜组分，解决了现有技术的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碲镉汞 薄膜 组分 测试 方法 | ||
【主权项】：
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