[发明专利]磁力计的校准、采样及方位角确定方法和设备

摘要

本发明提供一种磁力计的校准、采样及方位角确定方法和设备，所述校准方法包括：获取磁力计当前测到的角度值γt；计算所述当前测到的角度值γt与所述磁力计在上一时刻所测到的角度值γt‑1的差值δγ，则δγ＝γt‑γt‑1；计算所述上一时刻所测到的角度值γt‑1与上一时刻应当采样的总的角度c*R的差值δγ1，则δγ1＝γt‑1‑c*R，c为记录的采样点的数量，其中R为预设采样间隔，0°＜R＜360°；若δγ+δγ1＞R，则记录的所述采样点的数量ci＝ci‑1+n，其中n＝1，i为记录的采样点的次数，ci‑1为前一次记录的采样点的数量，ci为当前次记录的采样点的数量。

主权项

1.一种磁力计校准方法，其特征在于，包括：获取磁力计当前测到的角度值γt；计算所述当前测到的角度值γt与所述磁力计在上一时刻所测到的角度值γt‑1的差值δγ，则δγ＝γt‑γt‑1；计算所述上一时刻所测到的角度值γt‑1与上一时刻应当采样的总的角度c*R的差值δγ1，则δγ1＝γt‑1‑c*R，c为记录的采样点的数量，其中R为预设采样间隔，0°＜R＜360°；若δγ+δγ1>R，则记录的所述采样点的数量c＝c+n，其中n≥1且n为整数。