[发明专利]半导体产品质量管理系统及其方法以及汽车在审

专利信息
申请号: 201710588220.4 申请日: 2017-07-19
公开(公告)号: CN107798456A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 山田直树;松本芳幸;木村英史 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 欧阳帆
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及半导体产品质量管理系统及其方法以及汽车。在从显现故障的半导体装置接收到第一ID信息的情况下,半导体产品质量管理服务器基于使用第一ID作为关键字从半导体制造历史信息DB提取的制造历史信息来提取包含相同类型的故障显现风险的第二ID列表信息,并将其广播到汽车。在检测到故障的情况下,半导体装置将存储在非易失性存储器中的第三ID信息发送到半导体产品质量管理服务器。在接收到第二ID列表信息的情况下,依赖于第三ID是否包括在列表信息中而将与相同类型的故障显现风险的存在或不存在相关的信息输出到驾驶员。
搜索关键词: 半导体 产品 质量管理 系统 及其 方法 以及 汽车
【主权项】:
一种半导体产品质量管理系统,包括:半导体产品质量管理服务器,具有支持半导体产品的质量管理的功能;半导体制造历史信息数据库,在所述半导体制造历史信息数据库中累积与每个半导体产品的制造历史相关的信息;以及半导体装置,安装在最终产品上并且能够经由网络与所述半导体产品质量管理服务器通信,其中所述半导体产品质量管理服务器具有:输入/输出单元,经由所述网络向/从所述半导体装置发送和接收信息;以及故障应对处理单元,在经由所述输入/输出单元从显现故障的第一半导体装置接收到识别所述第一半导体装置的第一ID信息的情况下,所述故障应对处理单元基于使用第一ID作为关键字从所述半导体制造历史信息数据库提取的所述第一半导体装置的制造历史信息,来提取识别包含相同类型的故障显现风险的一个或多个第二半导体装置的第二ID列表信息,并经由所述输入/输出单元将所述第二ID列表信息广播到安装在每个最终产品上的所述半导体装置,其中所述半导体装置具有:无线通信单元,经由所述网络向/从所述半导体产品质量管理服务器无线地发送和接收信息;非易失性存储器,在所述非易失性存储器中预先存储识别所述半导体装置的ID信息;以及处理器,并且其中,在通过所述处理器的处理检测到所述半导体装置的故障的情况下,存储在所述非易失性存储器中的第三ID信息被读取并且经由所述无线通信单元发送到所述半导体产品质量管理服务器;在从所述半导体产品质量管理服务器接收到所述第二ID列表信息的情况下,存储在所述非易失性存储器中的所述第三ID信息被读取;并且,依赖于第三ID是否包括在所接收的第二ID列表信息中,将与所述相同类型的故障显现风险的存在或不存在相关的信息输出到驾驶员。
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