[发明专利]针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法及用途、测量装置在审

专利信息
申请号: 201710582783.2 申请日: 2017-07-17
公开(公告)号: CN107623650A 公开(公告)日: 2018-01-23
发明(设计)人: 熊军;郭晓峰;夏传荣;王立新 申请(专利权)人: 西安宇飞电子技术有限公司
主分类号: H04L27/00 分类号: H04L27/00;H04L27/26
代理公司: 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙)11504 代理人: 宋林清
地址: 710075 陕西省西安市高新区锦业*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法及用途、测量装置,所述方法包括以下步骤S110,接收同步信号;S120,根据所述同步信号的相邻两段序列的相位差计算粗频偏Δfcoarse;S130,获取导频,所述导频变换到时域,以获取当前的信噪比;S140,所述信噪比大于门限;S150,获取常规时隙下多个符号的导频,并通过所述多个符号的导频重复相关进行精频偏Δfoffset的测量;S160,计算目标频偏Δfall=Δfcoarse+Δfoffset。本发明的针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法提供准确的粗频偏,并通过信噪比判断是否满足继续进行频偏测量的依据,极大地增强了目标频偏的准确性。
搜索关键词: 针对 高速 环境 ofdm 系统 测量方法 用途 测量 装置
【主权项】:
针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S110,接收同步信号;S120,根据所述同步信号的相邻两段序列的相位差计算粗频偏Δfcoarse;S130,获取导频,所述导频变换到时域,以获取当前的信噪比;S140,所述信噪比大于门限;S150,获取常规时隙下多个符号的导频,并通过所述多个符号的导频重复相关进行精频偏Δfoffset的测量;S160,计算目标频偏Δfall=Δfcoarse+Δfoffset。
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