[发明专利]针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法及用途、测量装置

权利要求书

1.针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S110，接收同步信号；

S120，根据所述同步信号的相邻两段序列的相位差计算粗频偏Δf_coarse；

S130，获取导频，所述导频变换到时域，以获取当前的信噪比；

S140，所述信噪比大于门限；

S150，获取常规时隙下多个符号的导频，并通过所述多个符号的导频重复相关进行精频偏Δf_offset的测量；

S160，计算目标频偏Δf_all＝Δf_coarse+Δf_offset。

2.根据权利要求1所述的针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法，其特征在于，在步骤S120中，所述粗频偏的计算步骤包括：

S1201，基于以下公式，所述相邻两段序列首先分别与各自的本地序列共轭相乘，然后再共轭相乘，以计算共轭相关值

其中，synr₁(k)与synr₂(k)为相邻两段同步序列，synt₁(k)与synt₂(k)为相邻两段本地同步序列，所述共轭相关值R代入步骤S1202中的公式；

S1202，基于以下公式，根据所述共轭相关值R计算相位差所述相位差代入步骤S1203中的公式；

S1203，根据所述相位差计算粗频偏

其中，为相位差，L为采样点数，f_s为采样速度，所述粗频偏Δf_coarse代入步骤S160中的公式。

3.根据权利要求2所述的针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法，其特征在于，在步骤S130中，所述导频变换到时域的信号特性为k＝1:L/2，其中，synr₁(k)为同步序列，synt₁(k)为本地同步序列。

4.根据权利要求1所述的针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法，其特征在于，在步骤S140中，当所述信噪比小于门限时，则返回至步骤S110。

5.根据权利要求1所述的针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法，其特征在于，在步骤S150中，所述精频偏Δf_offset的计算步骤，包括：

S1501，将导频信道估计得到的信道H按导频所在的OFDM符号排列，排列后的导频信道估计表示为其中m＝1,2,…M表示一个时隙中包含列导频符号，nrs＝1,2…N表示一个OFDM符号中含导频的个数；

S1502，计算不同符号同一频点对的共轭相关值之和，为了进行子载波对齐，采用第一列和第三列的导频符号作共轭相关，第二列和第四列的导频符号作共轭相关：

R_sum＝R_sum₁+R_sum₂

其中，R_sum₁为第一列和第三列的导频符号的共轭相关值，R_sum₂为第二列和第四列的导频符号的共轭相关值，R_sum为第一列、第二列、第三列和第四列的导频符号的共轭相关值之和，conj()表示求共轭运算；

S1503，求所述共轭相关值之和R_sum对应的角度φ＝angle(R_sum)，其中，angle()表示求角度运算，用Cordic函数来实现；

S1504，计算共轭相关对所在两列导频符号的时间间隔；

L＝2*(N_FFT+N_CP)，N_FFT为FFT变换所选取的点数，N_CP循环前缀点数，因此，无需区分CP类型，L是一个与下行系统带宽绑定的正整数；

S1505，计算精频偏其中，分母中的π可以与分子中的单位相抵消。

6.根据权利要求1至5所述的针对高速环境下OFDM系统频偏的测量方法用于校准频偏。