[发明专利]一种基于锶铟氧化物的薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710581574.6 申请日: 2017-07-17
公开(公告)号: CN107546262A 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 宁洪龙;曾勇;姚日晖;刘贤哲;胡诗犇;郑泽科;章红科;徐苗;王磊;彭俊彪 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/24 分类号: H01L29/24;H01L29/06;H01L29/786;H01L21/34
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司44245 代理人: 罗啸秋
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于薄膜晶体管技术领域,公开了一种基于锶铟氧化物的薄膜晶体管及其制备方法。所述薄膜晶体管由衬底上依次设置的栅极、栅极绝缘层、有源层和源漏电极构成;所述有源层为锶铟氧化物,即在In2O3中以一定比例掺杂SrO。本发明采用锶铟氧化物作为有源层,仅需要非常低的退火温度就能够大幅度地提升电子的传输效率。
搜索关键词: 一种 基于 氧化物 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于锶铟氧化物的薄膜晶体管,由衬底上依次设置的栅极、栅极绝缘层、有源层和源漏电极构成;其特征在于:所述有源层为锶铟氧化物,即在In2O3中以一定比例掺杂SrO。
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