[发明专利]一种高反光物体扫描方法及其系统有效
| 申请号： | 201710566144.7 | 申请日： | 2017-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN107170035B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 朱培恒 | 申请（专利权）人： | 朱培恒 |
| 主分类号： | G06T15/04 | 分类号： | G06T15/04;G06T15/50;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙) 11504 | 代理人： | 张广辉 |
| 地址： | 200336 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高反光物体扫描测绘方法和系统，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围或表面；(2)对被扫描物采用摄像设备按照不同角度进行环物扫描拍摄，(3)在被扫描物表面喷涂哑光涂层或用光学系统投射光斑、杂点、二维码；(4)用一个或多个摄像设备对经过步骤(3)处理的被扫描物进行多角度环物拍摄，获取被扫描物的各个顶点、棱边数据；(5)对步骤(4)中获取的图像进行计算，得出被扫描物的几何顶点、几何边和几何表面的模型；(6)根据步骤(1)中获取的参照物信息，将步骤(2)中获取的图像代入到步骤(5)得到的模型中，生成被扫描物的顶点色彩和贴图信息，生成最终模型。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反光 物体 扫描 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种高反光物体扫描测绘方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围或表面；(2)对被扫描物采用一个或多个摄像设备按照不同角度进行环物扫描拍摄，获取被扫描物的表面图像数据；(3)在被扫描物表面喷涂哑光涂层，或贴纸，或用光学系统投射光斑、杂点、二维码之一；(4)用一个或多个摄像设备对经过步骤(3)处理的被扫描物进行多角度环物拍摄，获取被扫描物的各个顶点、棱边数据；(5)对步骤(4)中获取的图像进行计算，得出被扫描物的几何顶点、几何边和几何表面的模型；(6)根据步骤(1)中获取的参照物信息，将步骤(2)中获取的图像代入到步骤(5)得到的模型中，生成被扫描物的顶点色彩和贴图信息，生成最终模型。
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