[发明专利]显示基板的测试组件以及测试方法有效
申请号: | 201710565256.0 | 申请日: | 2017-07-12 |
公开(公告)号: | CN107180604B | 公开(公告)日: | 2018-02-13 |
发明(设计)人: | 吕晓文;江博仁 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人: | 钟子敏 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例提供显示基板的测试组件及测试方法,其中测试组件包括至少一个第一焊盘、多个第二焊盘、多个开关元件。每个开关元件的第二端分别连接不同的第二焊盘,至少一个第一焊盘连接至少两个开关元件的第一端,在显示基板进行光配向固化时,多个开关元件的控制端接收第一控制信号,第一端与第二端导通,至少一个第一焊盘与至少两个第二焊盘接通,第一焊盘接收第一信号并通过第二焊盘传输至显示基板;在显示基板进行阵列测试时,多个开关元件的控制端接收第二控制信号,第一端与第二端断开,多个第二焊盘分别接收第二信号并传输至显示基板。通过上述方式,本发明能够有效提升显示基板的空间利用率。 | ||
搜索关键词: | 显示 测试 组件 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种显示基板的测试组件,其特征在于,包括:至少一个第一焊盘,用于在所述显示基板进行光配向固化时接收第一信号;多个第二焊盘,用于在所述显示基板进行阵列测试时接收第二信号;和,多个开关元件,所述开关元件包括控制端、第一端以及第二端,且所述多个开关元件的控制端串联连接;其中,每个所述开关元件的第二端分别连接不同的所述第二焊盘,至少一个所述第一焊盘连接至少两个所述开关元件的第一端,在所述显示基板进行光配向固化时,所述多个开关元件的控制端接收第一控制信号,所述第一端与所述第二端导通,至少一个所述第一焊盘与至少两个所述第二焊盘导通,所述第一焊盘接收所述第一信号并通过所述第二焊盘传输至所述显示基板;在所述显示基板进行阵列测试时,所述多个开关元件的控制端接收第二控制信号,所述第一端与所述第二端断开,所述多个第二焊盘分别接收所述第二信号并传输至所述显示基板;所述显示基板包括显示区以及包围所述显示区的外围区,所述第一焊盘设置于所述外围区,且不直接连接所述显示区,所述多个第二个焊盘设置于所述外围区且连接所述显示区,以用于向所述显示基板传输所述第一信号或所述第二信号;其中所述组件进一步包括固定件,设置于所述外围区,用于固定所述第一焊盘与所述第二焊盘。
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