[发明专利]显示基板的测试组件以及测试方法

权利要求书

1.一种显示基板的测试组件，其特征在于，包括：

至少一个第一焊盘，用于在所述显示基板进行光配向固化时接收第一信号；

多个第二焊盘，用于在所述显示基板进行阵列测试时接收第二信号；和，

多个开关元件，所述开关元件包括控制端、第一端以及第二端，且所述多个开关元件的控制端串联连接；

其中，每个所述开关元件的第二端分别连接不同的所述第二焊盘，至少一个所述第一焊盘连接至少两个所述开关元件的第一端，在所述显示基板进行光配向固化时，所述多个开关元件的控制端接收第一控制信号，所述第一端与所述第二端导通，至少一个所述第一焊盘与至少两个所述第二焊盘导通，所述第一焊盘接收所述第一信号并通过所述第二焊盘传输至所述显示基板；在所述显示基板进行阵列测试时，所述多个开关元件的控制端接收第二控制信号，所述第一端与所述第二端断开，所述多个第二焊盘分别接收所述第二信号并传输至所述显示基板；所述显示基板包括显示区以及包围所述显示区的外围区，所述第一焊盘设置于所述外围区，且不直接连接所述显示区，所述多个第二个焊盘设置于所述外围区且连接所述显示区，以用于向所述显示基板传输所述第一信号或所述第二信号；

其中所述组件进一步包括固定件，设置于所述外围区，用于固定所述第一焊盘与所述第二焊盘。

2.根据权利要求1所述的组件，其特征在于：所述开关元件是薄膜晶体管，所述开关元件的控制端为所述薄膜晶体管的栅极，所述第一端为源极，所述第二端为漏极。

3.根据权利要求2所述的组件，其特征在于：在所述显示基板进行光配向固化时，所述多个开关元件的栅极接收的第一控制信号为高电位，所述源极与所述漏极导通，至少一个所述第一焊盘与至少两个所述第二焊盘接通，所述第一焊盘接收所述第一信号并通过所述第二焊盘传输至所述显示基板；在所述显示基板进行阵列测试时，所述多个开关元件的栅极接收的第二控制信号为低电位，所述源极与所述漏极断开，所述多个第二焊盘分别接收所述第二信号并传输至所述显示基板。

4.根据权利要求3所述的组件，其特征在于：所述测试组件进一步包括：控制信号焊盘，用于接收所述第一控制信号和所述第二控制信号；所述控制信号焊盘与所述多个开关元件中的所述栅极连接。

5.根据权利要求1所述组件，其特征在于：所述固定件呈框型设置，包围所述显示区，所述至少一个第一焊盘与所述多个第二焊盘分别设置在所述固定件的不同框边上。

6.根据权利要求1所述的组件，其特征在于：所述第一信号包括CK信号、STV信号、LC信号、RGB信号、COM信号中的至少一种。

7.根据权利要求1所述的组件，其特征在于：所述第二信号包括CK信号、RGB信号、LC信号、STV信号、VSS信号、COM信号中的至少一种。

8.一种显示基板的测试方法，其特征在于，所述方法应用于包括如权利要求1-7中任一项所述的测试组件的显示基板，所述测试方法包括：

向所述多个开关元件的控制端输入第二控制信号，以使得所述多个开关元件的所述第一端与所述第二端断开，并向所述多个第二焊盘分别输入所述第二信号以进行阵列测试；

向所述多个开关元件的控制端输入第一控制信号，以使得所述多个开关元件的所述第一端与所述第二端导通，并向所述至少一个第一焊盘分别输入所述第一信号以进行光配向固化。