[发明专利]非易失性存储器测试有效
| 申请号： | 201710543775.7 | 申请日： | 2017-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN107731264B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | T·巴克施 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 郑立柱;吕世磊 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了包括在由处理器(11)测试其他系统部件的至少一部分期间同时测试非易失性存储器的设备、系统和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 测试 | ||
【主权项】：
一种设备，包括：处理器，非易失性存储器，测试控制器，以及至少一个其他电路部件，其中，在测试模式中，所述处理器被配置为测试所述至少一个其他电路部件，并且其中所述测试控制器被配置为与所述至少一个其他电路部件的测试的至少一部分同时测试所述非易失性存储器。
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