[发明专利]一种相移干涉测量系统及其波片相移方法有效

专利信息
申请号: 201710533969.9 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN107462149B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 刘胜德;李娇声;吕晓旭;钟丽云 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/30;G01B11/24
代理公司: 广州容大专利代理事务所(普通合伙) 44326 代理人: 刘新年
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及光学干涉测量及数字全息测量技术领域,提供一种相移干涉测量系统及其波片相移方法,搭建相移干涉测量系统,包括光源、滤光片、第一二分之一波片、偏振分光元件、第一分束镜、四分之一波片、第二二分之一波片、第一偏振片及第一单色黑白图像传感器,通过固定所述四分之一波片的角度不变,调节所述第二二分之一波片的旋转角度,实现任意相移,不局限于与特定步长的相移算法结合,能与现在的任意相移量的相移算法相结合实现快速、高精度的相移干涉测量;且不需要能够精确进行移动或旋转的驱动装置,系统简洁、操作简便;第二二分之一波片相当于相移器,不需要放置在干涉光路中,因此系统不会受到机械运动的影响,系统稳定性更好。
搜索关键词: 一种 相移 干涉 测量 系统 及其 方法
【主权项】:
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