[发明专利]提高芯片充分接地和散热的焊接方法在审

专利信息
申请号: 201710497802.1 申请日: 2017-06-27
公开(公告)号: CN107708328A 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 汪宁;费文军;陈兴盛;李金晶;孟庆贤;俞昌忠;方航;张庆燕;李小亮 申请(专利权)人: 安徽华东光电技术研究所
主分类号: H05K3/34 分类号: H05K3/34
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司32224 代理人: 董建林
地址: 241002 安徽省芜*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了提高芯片充分接地和散热的焊接方法,其特征在于,包括如下步骤步骤SS1制备锡球;步骤SS2向电路板上芯片焊盘的焊盘接地孔中填充所述步骤SS1中的所述锡球;步骤SS3加热使所述步骤SS2中的焊盘接地孔中的所述锡球熔化。本发明跟现有工艺比较,增加了逐个向焊盘接地孔中填充锡球,然后放置在加热平台上加热使焊盘接地孔的锡球熔化的工序,使焊盘接地孔中充满焊锡,来实现芯片背面充分接地,并且保证了芯片充分散热,提高了芯片焊接质量。
搜索关键词: 提高 芯片 充分 接地 散热 焊接 方法
【主权项】:
提高芯片充分接地和散热的焊接方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤SS1:制备锡球;步骤SS2:向电路板上芯片焊盘的焊盘接地孔中填充所述步骤SS1中的所述锡球;步骤SS3:加热使所述步骤SS2中的焊盘接地孔中的所述锡球熔化。
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