[发明专利]一种Soc芯片的调试方法及系统在审
| 申请号： | 201710479793.3 | 申请日： | 2017-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN107273256A | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 刘洋;彭鹏;姜黎;许建国;张国;李锐 | 申请（专利权）人： | 湖南国科微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F15/78 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人： | 逯长明,许伟群 |
| 地址： | 410100 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种Soc芯片的调试方法及系统，获取并分析调试信息，输出有效调试信息；标记所述有效调试信息；存储标记后的所述有效调试信息；判断标记后的所述有效调试信息的存储状态，根据所述存储状态，输出符合仲裁原则的所述有效调试信息；封装所述符合仲裁原则的有效调试信息；分配封装后的所述有效调试信息；输送分配后的所述有效调试信息。本申请的方法及系统可以获得芯片内部问题发生的精确过程和内部的逻辑，解决现有调试方法中使用JTAG接口不能获知芯片出现问题的过程、使用IO接口对芯片内逻辑交互的分析不全面和使用Firmware日志的方式不能够精细到逻辑内部的操作的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 soc 芯片 调试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种Soc芯片的调试方法，其特征在于，所述方法包括：获取并分析调试信息，输出有效调试信息；标记所述有效调试信息；存储标记后的所述有效调试信息；判断标记后的所述有效调试信息的存储状态，根据所述存储状态，输出符合仲裁原则的所述有效调试信息；封装所述符合仲裁原则的有效调试信息；分配封装后的所述有效调试信息；输送分配后的所述有效调试信息。
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