[发明专利]基于X射线荧光光谱分析的水体重金属半定量分析方法在审
申请号: | 201710428216.1 | 申请日: | 2017-06-08 |
公开(公告)号: | CN107271469A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 陈小华;沈根祥;赵庆节;钱晓雍;胡双庆;汤正泽;顾海蓉 | 申请(专利权)人: | 上海市环境科学研究院 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司31253 | 代理人: | 肖爱华 |
地址: | 200030 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于X射线荧光光谱分析的水体重金属半定量分析方法。该方法为a)用待测重金属标准溶液绘制校准曲线;b)用水样采集器采集水样;c)用XRF光谱分析仪分析步骤b)采集的样品;用步骤a)得到的校准曲线对步骤c)测得的数值进行校准得到水样重金属含量。该方法通过使用水样采集器将水样吸附到固体吸附剂滤纸上,再用XRF仪检测附着在滤纸上的重金属,由此实现了对水体中重金属的快速简便测定,为环境监测提供了快速有效的检测手段。该方法适用于一定浓度范围内的多种重金属如汞、铅、铬、镍、砷等污染水样的检测。该方法基于XRF方法,其分析灵敏度受到XRF仪的影响,使用该方法前需用标准溶液进行校准。 | ||
搜索关键词: | 基于 射线 荧光 光谱分析 水体 重金属 定量分析 方法 | ||
【主权项】:
一种基于X射线荧光光谱分析的水体重金属半定量分析方法,其特征在于,按如下步骤进行:a)用待测重金属标准溶液绘制校准曲线;b)用带有固体吸附剂的水样采集器采集水样,使水样中的重金属附着在固体吸附剂上;c)用X射线荧光光谱分析仪测定步骤b)采集到的附着在固体吸附剂上的重金属含量,得到仪器读数;d)用步骤a)得到的校准曲线对步骤c)测得的仪器读数进行校准得到水样重金属含量。
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