[发明专利]集成电路和应用程序处理器有效
| 申请号： | 201710420111.1 | 申请日： | 2017-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN107894722B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 禹炯日 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 刘培培 |
| 地址： | 韩国京畿道水*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种集成电路(IC)包含多个知识产权件(IP)，所述多个知识产权件中的每一个包含测试逻辑。第一存储器控制器在第一操作模式中将从所述多个知识产权件中的至少一个接收的用户数据提供到第一存储器。扫描器在第二操作模式中从所述多个知识产权件的所述测试逻辑搜集调试数据。并且，第二存储器控制器在所述第二操作模式中从所述扫描器接收所述调试数据并且将所述调试数据提供到所述第一存储器。所述集成电路在操作缺陷发生时可在不使用外部设备的情况下搜集用于检测错误发生区域并且校正错误的调试数据，并且存储所述调试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 应用程序 处理器 | ||
【主权项】：
一种集成电路，其特征在于，包括：多个知识产权件，所述多个知识产权件中的每一个包括测试逻辑；第一存储器控制器，其经配置以在第一操作模式中将从所述多个知识产权件中的至少一个接收的用户数据提供到第一存储器；扫描器，其经配置以在第二操作模式中从所述多个知识产权件的所述测试逻辑搜集调试数据；以及第二存储器控制器，其经配置以在所述第二操作模式中从所述扫描器接收所述调试数据并且将所述调试数据提供到所述第一存储器。
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