[发明专利]一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法

摘要

本发明公开了一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法，属于微波测试技术领域。本发明不再通过附带限定条件的近似测试方法，而实现长延时器件在任意测试扫描及分析条件下的时延特性的精确测试，可以针对不同的实际测试应用需求，无需事先预知长延时器件固有时延特性的量级范围，有效解决了长延时器件的时延特性的精确测试与评估问题，以通用化的方式最大限度地满足实际应用的测试需求以及更高的技术要求。

主权项

1.一种适用于长延时器件的散射参数测试电路，包括信号激励单元、本振单元、参考信号接收单元、测试信号接收单元、数字及运算处理单元以及嵌入式计算机，其特征在于，还包括时钟及同步触发单元和基于时间身份映射的数据信息处理单元；信号激励单元，被配置为用于为参考信号接收单元和长延时器件提供不同频率的激励信号；本振单元，被配置为用于为参考信号接收单元和测试信号接收单元提供与不同频率的激励信号相应的本振信号；参考信号接收单元，被配置为用于接收信号激励单元发送的激励信号和本振单元发送的本振信号；测试信号接收单元，被配置为用于接收长延时器件输出的测试信号和本振单元发送的信号；数字及运算处理单元，被配置为用于接收参考和测试中频信号并对该信号进行数字处理及相应运算，提取出相应参考和测试信号的特性信息即参考和测试信号的幅相信息送至嵌入式计算机进行后续的数据运算及处理；时钟及同步触发单元，被配置为用于为信号激励单元、本振单元、参考信号接收单元、测试信号接收单元以及数字及运算处理单元提供基准同步时钟以及触发信号；基于时间身份映射的数据信息处理单元，被配置为用于对数字及运算处理单元得到的参考和测试信号特性信息进行数据处理，采用“时间标记”和“身份顺序编号”的方式对参考信号特性信息和测试信号特性信息逐一进行“打戳式”标识，与参考中频信号和测试中频信号之间建立唯一的映射关联关系；嵌入式计算机，被配置为用于接收数字及运算处理单元和基于时间身份映射的数据信息处理单元发送的信号；在嵌入式计算机的控制下，信号激励单元产生的激励信号分为两路，一路输入至参考信号接收单元，另一路输入至被测长延时器件；本振单元产生的本振信号分为两路，一路输入至参考信号接收单元，另一路输入至测试信号接收单元；参考信号接收单元接收激励信号和本振信号，以变频的方式产生携带激励信号特性信息的参考中频信号，并将该中频信号输入至数字及运算处理单元以进行数字处理与参考信息提取即得到参考信号R的幅相信息；测试信号接收单元接收长延时器件输出的与激励信号同频的测试信号和本振单元发送的本振信号，以变频的方式产生携带测试信号特性信息即被测长延时器件的特性信息的测试中频信号，并将该中频信号输入至数字及运算处理单元以进行数字处理与测试信息提取即得到测试信号A的幅相信息；数字及运算处理单元对接收的参考中频信号和测试中频信号进行数字处理及相应运算，并送至嵌入式计算机进行后续的数据运算及处理；基于时间身份映射的数据信息处理单元对数字及运算处理单元得到的参考信号特性信息和测试信号特性信息进行处理，并对参考信号特性信息和测试信号特性信息逐一进行标识，并将标识后的信息提供给后级数据管理单元，得到正确的测试结果。