[发明专利]一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法

说明书

本发明公开了一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法，属于微波测试技术领域。本发明不再通过附带限定条件的近似测试方法，而实现长延时器件在任意测试扫描及分析条件下的时延特性的精确测试，可以针对不同的实际测试应用需求，无需事先预知长延时器件固有时延特性的量级范围，有效解决了长延时器件的时延特性的精确测试与评估问题，以通用化的方式最大限度地满足实际应用的测试需求以及更高的技术要求。

技术领域

本发明属于微波测试技术领域，具体涉及一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法。

背景技术

随着卫星导航、无线通信和物联网等领域相关技术的快速发展与进步，长延时器件的技术体制与组成状态日益复杂，对时延技术特性提出更高的要求，相应地对其特性表征(即对应传输散射参数的准确获取)也呈现出更为迫切的需求，因此给测试技术或相关产品提出更新、更高的技术要求。传统矢量网络分析仪的测试架构与处理技术已不能适应新的测试需求，需要创新提出或形成与应用需求相适应的测试方法与技术。

通常状态下，表征长延时器件时延特性的方法是采用矢量网络分析仪测试其时延特性所对应的散射参数，其测试原理是矢量网络分析仪为长延时器件提供一路连续波激励信号，接收带有长延时器件时延特性信息的同频测试信号，经过测试分析处理后，得到表征长延时器件时延技术特性的散射参数。

根据实际应用的需求分析，矢量网络分析仪测试表征长延时器件时延技术特性的散射参数存在如下不足：

1、由于传统矢量网络分析仪测试长延时器件的信号激励、信号接收及分析处理是仅通过锁相实现同步扫描，各部分之间缺少时序同步测控机制，当矢量网络分析仪测试扫描及分析的时间与长延时器件固有时延特性相比存在较大差别时，在矢量网络分析仪的参考、测试接收单元，激励信号和经过长延时器件传输的测试信号会因为锁相工作模式导致进行信号接收产生相应的中频信号出现错误，无法得到带有正确时延特性信息的测试信号。

2、由于传统矢量网络分析仪测试长延时器件的信号激励、信号接收及分析处理是仅通过锁相实现同步扫描，数据采集及分析处理等也是按照锁相工作模式进行，对于包含时延特征的数据信息缺少基于唯一映射的身份识别与处理机制，当矢量网络分析仪测试扫描及分析的时间与长延时器件固有时延特性相比存在较大差别时，既无法得到带有正确时延特性信息的测试信号，同时又无法将每个频率测试信号得到的数据正确对应起来，因此更无法得到带有正确时延特性信息的测试结果。

发明内容

针对现有技术中存在的上述技术问题，本发明提出了一种适用于长延时器件的散射参数测试电路及方法，与现有技术相比，不再通过附带限定条件的近似测试方法(如降低测试速度或增加辅助测试的近似长延时器件)，而实现长延时器件在任意测试扫描及分析条件下的时延特性(对应传输散射参数)精确测试，可以针对不同的实际测试应用需求，无需事先预知长延时器件固有时延特性的量级范围，有效解决长延时器件的时延特性(对应传输散射参数)的精确测试与评估问题，以通用化的方式最大限度地满足实际应用的测试需求以及更高的技术要求。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种适用于长延时器件的散射参数测试电路，包括信号激励单元、本振单元、参考信号接收单元、测试信号接收单元、数字及运算处理单元以及嵌入式计算机，还包括时钟及同步触发单元和基于时间身份映射的数据信息处理单元；

信号激励单元，被配置为用于为参考信号接收单元和长延时器件提供不同频率的激励信号；

本振单元，被配置为用于为参考信号接收单元和测试信号接收单元提供与不同频率的激励信号相应的本振信号；

参考信号接收单元，被配置为用于接收信号激励单元发送的激励信号和本振单元发送的本振信号；

测试信号接收单元，被配置为用于接收长延时器件输出的测试信号和本振单元发送的信号；