[发明专利]一种量子LoG边缘检测方法在审
申请号: | 201710347909.8 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN107169982A | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 袁素真;路永乐;毛雪峰;王艳;袁建国;刘开健;曹阳;王小发 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 | 代理人: | 廖曦 |
地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明涉及一种量子LoG边缘检测的设计方法,属于量子图像处理领域。包括以下步骤步骤一,选择有利于实现并行处理的NEQR量子图像表示模型;步骤二,对LoG算子离散化,获得具有去噪功能的滤波掩膜;步骤三,通过量子移位操作获得图像的邻域信息;步骤四,根据一位量子全加器设计量子图像加法器;步骤五,利用量子图像加法器及所获得的邻域信息实现图像的滤波,从而获得边缘信息。本发明设计了具有去噪功能的量子LoG边缘检测算法,相较经典LoG边缘检测算法,其时间复杂度有指数级降低。 | ||
搜索关键词: | 一种 量子 log 边缘 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种量子LoG边缘检测方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:S1:选择有利于实现并行处理的NEQR(A Novel Enhanced Quantum Representation)量子图像表示模型;S2:对高斯拉普拉斯(Laplacian ofthe Gaussian,LoG)算子离散化,获得具有去噪功能的滤波掩膜;S3:通过量子移位操作获得图像的邻域信息;S4:根据一位量子全加器设计量子图像加法器;S5:利用量子图像加法器及所获得的邻域信息实现图像的滤波,从而获得边缘信息。
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