[发明专利]一种量子LoG边缘检测方法在审
申请号: | 201710347909.8 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN107169982A | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 袁素真;路永乐;毛雪峰;王艳;袁建国;刘开健;曹阳;王小发 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
主分类号: | G06T7/13 | 分类号: | G06T7/13 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 | 代理人: | 廖曦 |
地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 量子 log 边缘 检测 方法 | ||
1.一种量子LoG边缘检测方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:
S1:选择有利于实现并行处理的NEQR(A Novel Enhanced Quantum Representation)量子图像表示模型;
S2:对高斯拉普拉斯(Laplacian ofthe Gaussian,LoG)算子离散化,获得具有去噪功能的滤波掩膜;
S3:通过量子移位操作获得图像的邻域信息;
S4:根据一位量子全加器设计量子图像加法器;
S5:利用量子图像加法器及所获得的邻域信息实现图像的滤波,从而获得边缘信息。
2.根据权利要求1所述的一种量子LoG边缘检测方法,其特征在于:所述量子移位操作为:对图像量子态中表示位置的量子比特进行酉变换,从而移动图像中像素的位置;所述邻域信息为:图像每一个像素在相同位置处的邻域存储到一个图像中的信息。
3.根据权利要求1或2所述的一种量子LoG边缘检测方法,其特征在于:所述领域信息获得步骤为:
S301:制备h个相同的图像量子态|IYX>,其中c归为归一化常数,使掩膜中所有元素的和为0,x、y为图像的水平和垂直坐标,σ为标准偏差;
S302:对h个图像量子态分别施以不同的移位操作,得到一系列新的存储了原图像及其邻域信息的图像量子态。
4.根据权利要求1所述的一种量子LoG边缘检测方法,其特征在于:所述S5具体为:利用量子图像加法器实现两幅量子图像的相加;乘法运算用加法运算代替实现像素与滤波掩膜系数的相乘运算。
5.根据权利要求1或4所述的一种量子LoG边缘检测方法,其特征在于:所述量子图像加法器将相加后的图像信息通过酉变换从量子叠加态中提取出来。
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