[发明专利]用于3D集成电路中的互连测试的扫描结构有效
| 申请号： | 201710341840.8 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107462829B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 桑迪·库马·戈埃尔;李云汉;萨曼·M·I·阿扎姆;马拉·格绍伊古 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;李伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种器件包括第一管芯和堆叠在所述第一管芯之下的第二管芯，所述第一管芯和所述第二管芯之间互连。所述第一管芯或第二管芯中至少一个具有执行功能和提供功能性路径的电路。每个所述第一管芯和第二管芯包括多个锁存器和多个多路复用器，所述多个锁存器包含与每个互连对应的一个锁存器。每个多路复用器分别与所述多个锁存器的相应一个相连，并被设置为从所述功能性路径中接收和选择其中一个扫描测试图案或信号，以在所述第一管芯和第二管芯的扫描链测试期间输出。本发明实施例涉及用于3D集成电路中的互连测试的扫描结构。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 中的 互连 测试 扫描 结构 | ||
【主权项】：
一种器件，包括：第一管芯；和第二管芯，堆叠在所述第一管芯之下，所述第一管芯和所述第二管芯之间具有互连件，并且所述第一管芯或第二管芯中的至少一个具有执行功能和提供功能性路径的电路，其中，每个所述第一管芯和所述第二管芯包括：多个锁存器，包括与每个所述互连件对应的相应的锁存器；及多个多路复用器，每个多路复用器连接至所述多个锁存器的相应一个锁存器以及相应的功能性路径，并被设置为从所述功能性路径中接收和选择扫描测试图案或信号，以在所述第一管芯和所述第二管芯的扫描链测试期间输出。
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