[发明专利]一种高精度高线性度的互电容变化检测电路在审
申请号: | 201710299722.5 | 申请日: | 2017-05-02 |
公开(公告)号: | CN106932653A | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 赵文虎;管志强;邓礼君 | 申请(专利权)人: | 苏州芯通微电子有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G06F3/044 |
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地址: | 215123 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明名为一种高精度高线性度的互电容变化检测电路,涉及利用电容分压来进行互电容变化检测的领域;本发明采用电容分压法,得到表征待测互电容Cx的电压Vx,通过电压跟随器对采样电容Cs进行充电,充电完成,断开采样电容和电压跟随器之间的连接,电压Vx就以电荷的形式存储在采样电容上。调整ADC电容阵列,以逐次逼近的方法,将ADC电容阵列与内部电容调整阵列的电容分压,逐次逼近采样电容上的电压Vx,以获得待测互电容的电容值。将当前检测得到的电容值与之前检测得到的电容值进行比较,即可得到互电容Cx的变化量。由于本发明的电路中包含ADC电容阵列,因此,易于实现高精度和高线性度。互电容变化的精确检测,能够提升触摸产品的体验。 | ||
搜索关键词: | 一种 高精度 线性 电容 变化 检测 电路 | ||
【主权项】:
本发明公布了一种高精度高线性度的互电容变化检测电路,该检测电路包括:比较器,电压跟随器,内部电容调整阵列,ADC电容阵列,参考电容Cb,采样电容Cs,控制逻辑,开关和待测的互电容这九个部分。
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