[发明专利]能够电镀大尺寸化经光致抗蚀剂限定的特征的铜电镀浴和电镀方法有效
申请号: | 201710188677.6 | 申请日: | 2017-03-27 |
公开(公告)号: | CN107236975B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | M·托尔塞斯;R·阿兹布鲁克;M·斯卡利西;Z·尼亚兹伊别特娃;J·狄茨维斯泽柯 | 申请(专利权)人: | 罗门哈斯电子材料有限责任公司 |
主分类号: | C25D3/38 | 分类号: | C25D3/38 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈哲锋;胡嘉倩 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供允许在高电流密度下镀覆具有基本上均匀的形态和减少的节结产生的经光致抗蚀剂限定的大型特征的铜电镀浴和方法。所述铜电镀浴包括提供具有良好TIR%和WID%平衡的大型特征的杂环含氮共聚物的混合物。 | ||
搜索关键词: | 能够 电镀 尺寸 化经光致抗蚀剂 限定 特征 方法 | ||
【主权项】:
1.一种方法,其包含:a)提供包含光致抗蚀剂层的衬底,其中所述光致抗蚀剂层包含多个孔口;b)提供铜电镀浴,其包含一种或多种铜离子来源、一种或多种电解质、一种或多种加速剂、一种或多种抑制剂、双环氧化物与具有下式的芳香族氨基酸化合物的一种或多种第一反应产物:
其中E为CR3;G为CR4并且Z为CR5,其中R1、R2、R3、R4和R5独立地选自氢、‑NH2和‑OH,其限制条件为R1、R2、R3、R4和R5中的至少一个为‑NH2,所述双环氧化物具有下式:
其中R6和R7独立地选自氢和C1‑4烷基,A=O((CR8R9)mO)n或(CH2)y,各R8和R9独立地选自氢、甲基或羟基,m=1到6,n=1到20并且y=0到6,并且当y=0时,A为化学键;及咪唑与环氧化物的一种或多种第二反应产物,其中所述咪唑具有下式:
其中R10、R11和R12独立地选自氢、直链或支链C1‑10烷基、羟基、直链或支链烷氧基、直链或支链羟基C1‑10烷基、直链或支链烷氧基C1‑10烷基、直链或支链羧基C1‑10烷基、直链或支链氨基C1‑10烷基、经取代或未经取代的苯基,其中取代基选自羟基、羟基C1‑3烷基和C1‑3烷基;所述环氧化物具有下式:
其中Y为氢或C1‑4烷基,X为CH2X2,X1为氢或C1‑5烷基并且X2为卤素或OC1‑3卤烷基;c)将包含具有所述多个孔口的所述光致抗蚀剂层的所述衬底浸没在所述铜电镀浴中;以及d)在所述多个孔口中电镀多个铜光致抗蚀剂限定的大型特征,所述多个经光致抗蚀剂限定的大型特征包含‑5%到+15%的平均TIR%,其中所述TIR%通过以下方程式测定:TIR%=[高度中心‑高度边缘]/高度最大×100其中高度中心为柱的沿其中轴线测量的高度,并且高度边缘为柱的沿其边缘在边缘上的最高点处测量的高度,高度最大为柱底部到其顶部上的其最高点的高度。
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