[发明专利]电路基板的检查方法、检查装置及程序有效
| 申请号： | 201710171850.1 | 申请日： | 2017-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN107229011B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 早苗骏一;斋藤智一;远藤友悟;川户贵幸 | 申请（专利权）人： | 雅马哈精密科技株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/52;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 电路基板的检查方法是检查装置执行的电路基板的检查方法，包括：基于根据先前对检查对象的电路基板执行的检查中的检查结果的历史信息，即基于包含了表示电路基板的被检查电极和检查电路基板的检查电极之间的相对位置的检查位置信息的历史信息，设定与被检查电极和检查电极之间的位置对准相关的设定信息的设定步骤；以及基于由设定步骤设定的设定信息，变更相对的位置，检查电路基板的检查步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 路基 检查 方法 装置 程序 | ||
【主权项】：
一种检查装置执行的电路基板的检查方法，包括：设定步骤，基于根据先前对检查对象的电路基板执行的检查中的检查结果的历史信息，即基于包含检查位置信息的历史信息，设定与被检查电极和检查电极之间的位置对准相关的设定信息，所述检查位置信息表示所述电路基板的所述被检查电极和检查所述电路基板的所述检查电极之间的相对位置；以及检查步骤，基于由所述设定步骤设定的所述设定信息，变更所述相对的位置，检查所述电路基板。
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