[发明专利]利用CBCT能谱成像获取物质成分的方法在审

专利信息
申请号: 201710116225.7 申请日: 2017-02-23
公开(公告)号: CN106841244A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 戴建荣;门阔 申请(专利权)人: 门阔
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种利用CBCT能谱成像获取物质成分的方法,涉及医学影像,诊断,图像引导放疗领域,该利用CBCT能谱成像获取物质成分的方法的软组织分辨率高,可以从形态上很好分辨低密度组织,能实现功能成像和组织成分分析,从成分上准确识别及量化不同(例如,肿瘤)组织,以及监测组织成分的发展变化,有利于基于CBCT自适应放射治疗。
搜索关键词: 利用 cbct 成像 获取 物质 成分 方法
【主权项】:
一种利用CBCT能谱成像获取物质成分的方法,其特征在于:所述利用CBCT能谱成像获取物质成分的方法的步骤如下:(1)建立基材料系数投影的求解模型诊断成像用的是kV级x射线,能量为E的单色x射线穿过物质后的衰减可用两种基材料(物质A和物质B)的线性衰减系数的线性函数表示,如(1)式所示:ln(I/I0)=‑μA(E)gxA‑μB(E)gxB  (1)其中,I0为入射射线的强度,I为出射射线的强度;xA和xB分别是两种物质A和B的等效厚度,称为基材料系数,单位为mm;μA(E)和μB(E)分别为两种物质A和B在能量为E的x射线下的线性衰减系数,单位为mm‑1;若采用两种能量的单色x射线(高能:EH,低能:EL)扫描,表达式可为:ln(IH/I0H)=‑μA(EH)gxA‑μB(EH)gxBln(IL/I0L)=‑μA(EL)gxA‑μB(EL)gxB         (2)而x线能谱一般为多色谱(非单色的),对于高能x线光谱SH(E)和低能x线光谱SL(E)式(2)需要改写为:ln(IH/I0H)=∫SH(E)g[‑μA(E)gxA‑μB(E)gxB]dEln(IL/I0L)=∫SL(E)g[‑μA(E)gxA‑μB(E)gxB]dE       (3)对于式(3)求解xA和xB,可以近似用下式(4)表示:xA=a0+a1L+a2H+a3L2+a4LH+a5H21+b0L+b1H]]>xB=c0+c1L+c2H+c3L2+c4LH+c5H21+d0L+d1H---(4)]]>其中,L=‑ln(IL/I0L);H=‑ln(IH/I0H)。建立基材料投影的求解模型,就是确定(4)式中的参数a0,a1,a2,a3,a4,a5,b0,b1,c0,c1,c2,c3,c4,c5,d0,d1的数值,这可以根据基材料的双能成像计算得到,为了实现这一目的,需要进行以下步骤:①选择物质A和物质B作为基材料;②在高能SH(E)和低能SL(E)下,采集基材料A和B在不同厚度组合(xA,xB)下的双能投影图像(L,H),得到双能投影灰度值(L,H)与基材料厚度组合(xA,xB)的对应关系;③数据拟合得到参数a0,a1,a2,a3,a4,a5,b0,b1,c0,c1,c2,c3,c4,c5,d0,d1的数值,从而确定基材料系数投影的求解模型,即式(4);(2)计算被测物体的基材料系数xA和xB该部分具体包括以下步骤:①在高能SH(E)和低能SL(E)下,获取被测物体的双能投影图像;②用现有技术修正散射;③配准对应角度的双能投影图像;④根据第一步建立的基材料系数投影的求解模型,即式(4),计算被测物体的基材料系数xA和xB;(3)由基材料系数xA和xB,分别计算多种能量(Ei)的单色x射线下采集的投影数据,计算公式为:∫μ(Ei)ds=μA(Ei)gxA+μB(Ei)gxB,i=1,2,3,4,...       (5)其中,μA(Ei)和μB(Ei)分别为两种基材料A和B在能量为Ei的x射线下的线性衰减系数,可查表得到;(4)由投影数据,三维重建得到被测物质在能量Ei的线性衰减系数μ(Ei);(5)分解物质的组成成分。n材料分解法,是将检测体素视为混合物,将其分解为n种物质的合成,假设n种物质所占的体积比例分别为f1,f2,...fn,则有如下关系:f1+f2+...+fn=1       (6)f1μ1(Ei)+f2μ2(Ei)+...+fnμn(Ei)=μ(Ei)         (7)其中μj(Ei),j=1,..n为物质n在能量Ei下的线性衰减系数,可以查表得到,为了求解f1,f2,...fn,步骤三和步骤四中的i必须满足:i≥n‑1,根据公式(6)‑(7)优化求出n种物质的体积分数,用于组织成分的识别和量化。
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