[发明专利]一种芯片键合装置有效
申请号: | 201710114399.X | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN108511362B | 公开(公告)日: | 2020-01-24 |
发明(设计)人: | 朱岳彬;郭耸;陈飞彪;夏海 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种芯片键合装置,包括芯片吸取分离单元、键合手模块、基片供应单元和芯片对准系统,所述芯片对准系统设于所述芯片吸取分离单元与所述基片供应单元之间,所述键合手模块包括第一运动台、设置在所述第一运动台上的多个键合手和用于驱动所述第一运动台运动的第一驱动装置,所述键合手通过所述第一运动台往返于所述芯片吸取分离单元、芯片对准系统和基片供应单元之间,实现一个所述键合手转位至芯片拾取工位从所述芯片吸取分离单元吸取芯片时,其他键合手中至少有键合手在芯片对准工位通过所述芯片对准系统进行芯片位置识别和/或在芯片键合工位将芯片键合在所述基片供应单元的基片上,提高了生产效率。 | ||
搜索关键词: | 芯片对准系统 分离单元 供应单元 芯片键合 芯片吸取 运动台 工位 第一驱动装置 生产效率 芯片对准 芯片拾取 芯片位置 键合 转位 芯片 往返 驱动 | ||
【主权项】:
1.一种芯片键合装置,其特征在于,包括芯片吸取分离单元、键合手模块、基片供应单元、芯片对准系统,所述芯片对准系统设于所述芯片吸取分离单元与所述基片供应单元之间,所述键合手模块包括第一运动台、设置在所述第一运动台上的多个键合手和用于驱动所述第一运动台运动的第一驱动装置,所述键合手通过所述第一运动台往返于所述芯片吸取分离单元、芯片对准系统和基片供应单元之间,实现一个所述键合手转位至芯片拾取工位从所述芯片吸取分离单元吸取芯片时,其他键合手中至少有键合手在芯片对准工位通过所述芯片对准系统进行芯片位置识别和/或在芯片键合工位将芯片键合在所述基片供应单元的基片上;/n所述芯片对准系统包括标记朝下贴片方式用芯片对准模块,用于测量采用标记朝下贴片方式键合的芯片位置,或/和标记朝上贴片方式用芯片对准模块,用于测量采用标记朝上贴片方式键合的芯片位置;/n所述标记朝下贴片方式用芯片对准模块包括第一视觉对准单元,所述第一视觉对准单元与运行至第一视觉对准单元位置的所述键合手上的芯片对应,识别所述芯片上背向所述键合手的标记的位置。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造