[发明专利]缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片有效
| 申请号： | 201710076331.7 | 申请日： | 2017-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN106878636B | 公开（公告）日： | 2019-11-29 |
| 发明（设计）人： | 旷开智 | 申请（专利权）人： | 建荣半导体(深圳)有限公司;建荣集成电路科技(珠海)有限公司;珠海煌荣集成电路科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/367 | 分类号： | H04N5/367 |
| 代理公司： | 44370 深圳市华腾知识产权代理有限公司 | 代理人： | 彭年才<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。本发明，通过自适应门限的缺陷像素点检测，对于非敏感像素点做局部特性的门限值，可以检测出对敏感度低的缺陷像素点。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 像素 检测 方法 装置 图像 处理 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法包括：/n提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；/n计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；/n如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。/n
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