[发明专利]缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片

说明书

本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，所述方法包括：提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。本发明，通过自适应门限的缺陷像素点检测，对于非敏感像素点做局部特性的门限值，可以检测出对敏感度低的缺陷像素点。

技术领域

本发明属于图像处理技术领域，尤其涉及一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片。

背景技术

图像传感器在制造过程中，其监视和测量系统需要保证每个像素点都统一、不失真、稳定的图像输出。但是有时会在制造过程中或之后，像素点会产生缺陷，从而出现输出异常电平信号的缺陷像素点。另外，所使用的摄像元件的像素点数有逐年增大的倾向，且伴随着这种倾向，缺陷像素点数目也增大。

众所周知，一般的缺陷像素点类型有如下两种：

一种类型是热噪点Hot pixels，其像素值因为过激的暗电流导致有较大的偏移；

第二种类型是死点Dead pixels，即为敏感度较低的像素,主要有以下三种：

(1)显示为图像中的白点；

(2)不符合传感器的参数的像素点，如温度和集成时间；

(3)相对于周围点表现为暗点；

为了减少缺陷像素点对视觉的影响，现有图像处理系统中会加入坏点检测。缺陷点矫正(Defective Pixel Correction、DPC)的算法一般都是在像素点区域进行检测，以当前像素点与周边像素点的差值与全局门限值之间的差值来判决是否为缺陷点，然后进行纠正。这种做法有如下不足：

(1)对于敏感性较低的缺陷像素点，其像素值与周边像素值的差值与当前像素区域的激励有关，属于局部的特性，所以用全局的门限值可能会遗漏这种类型的缺陷点；

(2)大多数非缺陷点无需处理，对于Line Buffer行缓冲区的浪费。

综上所述，现有缺陷像素点获取方法存在遗漏敏感性较低的缺陷像素点、且系统消耗过大的问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片，旨在解决现有缺陷像素点获取方法存在遗漏敏感性较低的缺陷像素点、且系统消耗过大的问题。

一方面，提供一种缺陷像素点检测方法，所述方法包括：

提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；

计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；

如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。

进一步地，所述确定该检测像素点为缺陷像素点的步骤之后，还包括：

判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；

如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。

进一步地，所述方法还包括：

如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。

进一步地，所述以所有检测像素点的像素值计算门限值具体：