[发明专利]缺陷像素点检测方法、装置及图像处理芯片

权利要求书

1.一种缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；

计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；

如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。

2.根据权利要求1所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述确定该检测像素点为缺陷像素点的步骤之后，还包括：

判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；

如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。

3.根据权利要求2所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。

4.根据权利要求1所述的缺陷像素点检测方法，其特征在于，所述以所有检测像素点的像素值计算门限值具体：

以N*N个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值。

5.一种缺陷像素点检测装置，其特征在于，所述装置包括：

像素点提取单元，用于提取待检测图像的RGB颜色空间中均匀分布的N*N个检测像素点，以所有检测像素点的像素值计算门限值，所述N为大于等于3的正整数；

差值计算单元，用于计算各个检测像素点的像素值与所述门限值的和值及差值；

缺陷检测单元，用于如果检测像素点对应的和值小于预设像素阀值，或检测像素点对应的差值大于预设像素阀值，则对该检测像素点做缺陷标识，确定为缺陷像素点。

6.根据权利要求5所述的缺陷像素点检测装置，其特征在于，所述装置还包括：

缺陷判断单元，用于判断所有检测像素点的缺陷标识数量之和是否大于预设缺陷点数量阀值；

第一校正单元，用于如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和大于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行均值滤波。

7.根据权利要求6所述的缺陷像素点检测装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二校正单元，用于如果所有检测像素点的缺陷标识数量之和小于或等于预设缺陷点数量阀值，则对待检测图像进行降噪滤波。

8.根据权利要求5所述的缺陷像素点检测装置，其特征在于，所述像素点提取单元具体用于以N*N个检测像素点的像素值的均值与预设比例系数之积，作为门限值。

9.一种图像处理芯片，包括处理器和用于存储处理器可执行程序的存储器，其特征在于，所述处理器包括如权利要求5-8任一项所述的缺陷像素点检测装置。