[发明专利]位移检测装置和角速度检测装置在审
| 申请号： | 201710061295.7 | 申请日： | 2017-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN107101653A | 公开（公告）日： | 2017-08-29 |
| 发明（设计）人： | 梅原刚;平林启;上田国博;内田圭祐 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/14 | 分类号： | G01D5/14;G01D5/244 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人： | 杨琦,黄浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的位移检测装置具备第一传感器；第二传感器；物体，包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域，并且在第一方向上相对于第一传感器和第二传感器位移；以及运算单元。第一传感器检测伴随物体的位移的第一磁场变化，并且将检测出的第一磁场变化作为第一信号输出；第二传感器检测伴随物体的位移的第二磁场变化，并且将检测出的第二磁场变化作为第二信号输出，第二信号与第一信号相位不同；运算单元根据第一信号和第二信号，在将物体发生相当于连续的第一区域与第二区域的合计的物体的位移量的位移所需的时间作为1周期时，在每个该1周期中多次算出物体在第一方向上的位移量。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 检测 装置 角速度 | ||
【主权项】：
一种位移检测装置，其中，具备：第一传感器；第二传感器；物体，包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域，并且在所述第一方向上相对于所述第一传感器和所述第二传感器位移；以及运算单元，所述第一传感器检测伴随所述物体的所述位移的第一磁场变化，并且将检测出的所述第一磁场变化作为第一信号输出，所述第二传感器检测伴随所述物体的所述位移的第二磁场变化，并且将检测出的所述第二磁场变化作为第二信号输出，所述第二信号与所述第一信号相位不同，所述运算单元根据所述第一信号和所述第二信号，在将物体发生相当于连续的所述第一区域与所述第二区域的合计的物体的位移量的位移所需的时间作为1周期时，在每个该1周期中多次算出所述物体在所述第一方向上的位移量。
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