[发明专利]位移检测装置和角速度检测装置在审

专利信息
申请号: 201710061295.7 申请日: 2017-01-25
公开(公告)号: CN107101653A 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 梅原刚;平林启;上田国博;内田圭祐 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14;G01D5/244
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 代理人: 杨琦,黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 位移 检测 装置 角速度
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种通过检测伴随物体的位移(或旋转)的磁场变化来检测该物体的位移(或旋转)的位移检测装置和角速度检测装置。

背景技术

一般来说,作为在编码器、电位计等中检测旋转体的旋转动作的装置,例如使用具备与该旋转体一起旋转的齿轮等磁性体、以与该磁性体的附近离间的方式配置的磁场检测元件、和发生偏置磁场的偏置磁体的旋转检测装置(例如参照专利文献1、2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平8-114411号公报

专利文献2:日本特开2006-113015号公报

发明内容

但是,在以往的旋转检测装置中,当旋转速度过分慢时,检测旋转体有无旋转需要花费很多时间。这是因为缩小旋转体的齿轮间距有限度。

因此,期望提供一种即使物体的位移(或旋转)为低速、也可以正确地进行该物体的位移(或旋转)的检测的位移检测装置和角速度检测装置。

作为本发明的一种实施方式的位移检测装置具备:第一传感器;第二传感器;物体,包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域,并且在第一方向上相对于第一传感器和第二传感器位移;以及运算单元。在这里,第一传感器检测伴随物体的位移的第一磁场变化,并且将检测出的第一磁场变化作为第一信号输出。第二传感器检测伴随物体的位移的第二磁场变化,并且将检测出的第二磁场变化作为第二信号输出,第二信号与第一信号相位不同。运算单元根据第一信号和第二信号,在将物体发生相当于连续的第一区域与第二区域的合计的物体的位移量的位移所需的时间作为1周期时,在每个该1周期中多次算出物体在第一方向上的位移量。

作为本发明的一种实施方式的角速度检测装置具备:第一传感器;第二传感器;旋转体,包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域,并且在第一方向上相对于第一传感器和第二传感器旋转;以及运算单元。在这里,第一传感器检测伴随旋转体的旋转的第一磁场变化且输出第一信号。第二传感器检测伴随旋转体的旋转的第二磁场变化且输出第二信号,第二信号与第一信号相位不同。运算单元根据第一信号和第二信号,在将旋转体发生相当于连续的第一区域与第二区域的合计的旋转体的旋转角的旋转所需的时间作为1周期时,在每个该1周期中多次算出旋转体在第一方向上的旋转角。

附图说明

图1是表示作为本发明的一种实施方式的旋转检测装置的整体结构的概略图。

图2是图1所示的旋转检测装置的一部分结构的概略的示意立体图。

图3是表示图2所示的磁性传感器1电路结构的电路图。

图4是表示图2所示的磁性传感器的主要部分结构的放大分解立体图。

图5A是表示图1所示的旋转检测装置的主要部分结构及其动作的第一放大图。

图5B是表示图1所示的旋转检测装置的主要部分结构及其动作的第二放大图。

图5C是表示图1所示的旋转检测装置的主要部分结构及其动作的第三放大图

图6是表示图1所示的旋转检测装置的齿轮的旋转角(电角度)、传感器输出和脉冲输出的经时变化的一个例子的特性图。

图7是作为第一变形例的物体的结构的示意图。

图8是作为第二变形例的物体的结构的示意图。

图9A是表示图1所示的旋转检测装置的齿轮的旋转角(电角度)、传感器输出和脉冲输出的经时变化的另一个例子的特性图。

图9B是表示图1所示的旋转检测装置的齿轮的旋转角(电角度)、传感器输出和脉冲输出的经时变化的其他例子的特性图。

符号的说明

1 齿轮

2 传感器单元

3 运算电路

4 脉冲输出单元

5,7,8 磁体

21,22 磁性传感器

36 角度运算单元

41 脉冲发生单元

具体实施方式

下面参照附图对本发明的实施方式进行详细说明。再有,说明按以下的顺序进行。

1.实施方式

检测齿轮有无旋转和角速度的旋转检测装置

2.变形例

<1.实施方式>

[旋转检测装置的结构]

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