[发明专利]电容式感测装置及其判断基线值的更新方法有效

专利信息
申请号: 201710034689.3 申请日: 2017-01-18
公开(公告)号: CN107102785B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 李尚礼 申请(专利权)人: 盐光股份有限公司;意象无限股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044;G06F3/0354
代理公司: 北京市铸成律师事务所 11313 代理人: 郝文博
地址: 中国台湾新北市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种电容式感测装置的判断基线值的更新方法及电容式感测装置,先确认当前量测值与出厂基线值之间或与记录基线值之间是否具有全等差异现象,以决定是否采用当前量测值作为进行接续的感测过程所使用的判断基线值。当具有此现象时,采用当前量测值作为判断基线值。当不具有此现象时,则采用出厂基线值作为判断基线值并进行各侦测点的判断基线值的校验过程。在校验过程中,侦测各侦测点的量测值的信号特性为高频或低频,并据此决定是否以当前量测值更新对应的判断基线值与更新的时机。因此,能降低判断基线值的更新次数并节省资源。
搜索关键词: 电容 式感测 装置 及其 判断 基线 更新 方法
【主权项】:
一种电容式感测装置的判断基线值的更新方法,包括:读出多个侦测点的多个出厂基线值;读出所述多个侦测点的多个记录基线值;侦测所述多个侦测点以得到所述多个侦测点的多个第一量测值;计算所述多个侦测点的所述多个第一量测值与对应的所述多个出厂基线值之间的多个第一差异值;计算所述多个第一差异值的一第一变化量;比较该第一变化量与一第一阀值;当该第一变化量小于该第一阀值时,以所述多个第一量测值作为所述多个侦测点的多个判断基线值,并基于所述多个判断基线值进行所述多个侦测点的位置信息的感测过程;计算所述多个感测点的所述多个第一量测值与对应的所述多个记录基线值之间的多个第二差异值;计算所述多个第二差异值的一第二变化量;比较该第二变化量与一第二阀值;当该第二变化量小于该第二阀值时,以所述多个第一量测值作为所述多个侦测点的所述多个判断基线值,并基于所述多个判断基线值进行该感测过程;当该第一变化量不小于该第一阀值且该第二变化量不小于该第二阀值时,以所述多个出厂基线值作为所述多个侦测点的所述多个判断基线值、禁能所述多个侦测点的驱动、以及进行各该侦测点的校验过程,其中各该侦测点的该校验过程包括:重复侦测该侦测点多次以得到该侦测点的多个第二量测值;依序进行所述多个第二量测值的多阶滤波以产生一滤波数列;根据该滤波数列与一变化门槛依序判定该第二量测值的信号特性为高频及低频中之一;计数在禁能所述多个侦测点的驱动下所述多个第二量测值的所述多个信号特性连续判定为低频的一连续数量;当该第二量测值的所述信号特性第一次判定为高频时,使能所述多个侦测点中的多个的驱动;计数在使能所述多个侦测点的驱动下所述多个第二量测值的所述多个信号特性中剩余者判定为高频的一累计次数;当该连续数量达一第三阀值时,再次侦测该侦测点以得到该侦测点的一第三量测值,并以该第三量测值更新该侦测点的该判断基线值;以及当该累计次数达一第四阀值时,再次侦测该侦测点以得到该侦测点的一第四量测值,并以该第四量测值更新该侦测点的该判断基线值;以及在完成所有该侦测点的该校验过程后,基于所述多个判断基线值进行该感测过程。
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