[发明专利]一种测量双光子吸收截面的方法

摘要

本发明公开了一种测量双光子吸收截面的方法。本发明将飞秒激光引入扫描显微系统作为光源，飞秒激光经过物镜聚焦后激发待测材料的双光子荧光信号，荧光信号进而被响应灵敏的光电倍增管接收，经过光电转换、数据采样、处理后在计算机上成像。再减去材料双光子荧光成像的背景，而后可读取材料双光子荧光成像图中荧光强度的值作为双光子荧光强度信号，代入公式计算即可得到待测材料的2PA截面。本发明提出的2PA截面测量方法基于稳定的双光子荧光显微成像系统，较传统的2PA截面测试方法，大大减小了测量结果的误差，且测量方法更为简便、可靠，适合非光学专业的人员进行操作。

主权项

一种测量双光子吸收截面的方法，所使用的装置包括飞秒激光光源、振镜扫描单元、二色镜、光电倍增管、信号放大器和计算机，其特征在于：外置的飞秒激光光源所发出的激光进入振镜扫描单元后经扫描透镜与镜筒透镜形成扩束光束，再经一块长反短通二向色镜反射，由物镜会聚激发荧光材料，产生双光子荧光信号，材料激发出的荧光沿原光路返回，通过长反短通二向色镜，以及用于滤除飞秒激发光的滤光片后被响应灵敏的光电倍增管接收；光电倍增管将模拟信号转换为数字信号，经过信号放大器放大后被计算机采集；所述的振镜扫描单元与计算机连接以实现信号扫描的同步；通过上述过程，得到材料的双光子荧光显微成像图，再从该显微成像图获取荧光强度F1；然后以同样的方式得到参照荧光染料罗丹明Rh6G的双光子荧光强度F0；由此计算得到双光子吸收截面。