[发明专利]一种测量双光子吸收截面的方法

权利要求书

1.一种测量双光子吸收截面的方法，所使用的装置包括飞秒激光光源、振镜扫描单元、二色镜、光电倍增管、信号放大器和计算机，其特征在于：

外置的飞秒激光光源所发出的激光进入振镜扫描单元后经扫描透镜与镜筒透镜形成扩束光束，再经一块长反短通二向色镜反射，由物镜会聚激发荧光材料，产生双光子荧光信号，材料激发出的荧光沿原光路返回，通过长反短通二向色镜，以及用于滤除飞秒激发光的滤光片后被响应灵敏的光电倍增管接收；光电倍增管将模拟信号转换为数字信号，经过信号放大器放大后被计算机采集；所述的振镜扫描单元与计算机连接以实现信号扫描的同步；

通过上述过程，得到材料的双光子荧光显微成像图，再从该显微成像图获取荧光强度F₁；然后以同样的方式得到参照荧光染料罗丹明Rh6G的双光子荧光强度F₀；由此计算得到双光子吸收截面。

2.根据权利要求1所述的一种测量双光子吸收截面的方法，其特征在于：双光子荧光显微成像图还需要做减背景光处理。

3.根据权利要求1所述的一种测量双光子吸收截面的方法，其特征在于：长反短通二向色镜的截止波长为980nm。

4.根据权利要求1所述的一种测量双光子吸收截面的方法，其特征在于：滤光片为590nm的长通滤光片。

5.根据权利要求1所述的一种测量双光子吸收截面的方法，其特征在于：光电倍增管可响应185-800 nm波段的光信号。

6.根据权利要求1所述的一种测量双光子吸收截面的方法，其特征在于：物镜是奥林巴斯的25倍水镜，工作距离为2mm。