[发明专利]一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案在审
| 申请号： | 201710019033.4 | 申请日： | 2017-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN106598873A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 万上宏;叶媲舟;涂柏生 | 申请（专利权）人： | 深圳市博巨兴实业发展有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F13/40 |
| 代理公司： | 深圳力拓知识产权代理有限公司44313 | 代理人： | 李伟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案，包括时钟产生模块、复位产生模块、芯片配置选项模块、程序存储器、数据存储器、外设模块、用户调试模式控制模块和MCU内核，所述用户调试模式控制模块分别连接程序存储器和MCU内核，MCU内核还分别连接程序存储器、外设模块和数据存储器，外设模块还连接芯片配置选项模块，本发明通过复用MCU芯片中的UART模块的逻辑资源和通信端口，而不需要增加过多额外的逻辑资源、额外的通信接口以及通信端口即可以实现MCU芯片的用户调试功能，节省了用于实现用户调试模式的大部分逻辑资源，降低MCU芯片的生产成本。UART模块是MCU芯片中常用的外设之一，所以本方案具有较强的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 mcu 芯片 用户 调试 模式 方案 | ||
【主权项】：
一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案，包括时钟产生模块、复位产生模块、芯片配置选项模块、程序存储器、数据存储器、外设模块、用户调试模式控制模块和MCU内核，其特征在于，所述用户调试模式控制模块分别连接程序存储器和MCU内核，MCU内核还分别连接程序存储器、外设模块和数据存储器，外设模块还连接芯片配置选项模块。
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