[发明专利]一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案在审
申请号: | 201710019033.4 | 申请日: | 2017-01-11 |
公开(公告)号: | CN106598873A | 公开(公告)日: | 2017-04-26 |
发明(设计)人: | 万上宏;叶媲舟;涂柏生 | 申请(专利权)人: | 深圳市博巨兴实业发展有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F13/40 |
代理公司: | 深圳力拓知识产权代理有限公司44313 | 代理人: | 李伟 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实现 mcu 芯片 用户 调试 模式 方案 | ||
技术领域
本发明涉及智能芯片技术领域,具体是一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案。
背景技术
对于芯片设计来说,在设计目标上往往存在冲突,即它们的功能要足够全面,同时要求芯片面积尽量小。芯片用户开发应用程序时,支持用户调试模式的MCU芯片能够带来非常大的便利。MCU芯片的用户调试模式是相对于芯片正常工作模式之处的一种额外的模式,需要增加额外的逻辑资源才能实现,所以会使MCU芯片的面积增大,从而使生产成本上升。
本发明提出一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案。本方案通过复用MCU芯片中的UART模块的逻辑资源和通信端口,而不需要增加过多额外的逻辑资源、额外的通信接口以及通信端口即可以实现MCU芯片的用户调试功能,节省了用于实现用户调试模式的大部分逻辑资源,降低MCU芯片的生产成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案,包括时钟产生模块、复位产生模块、芯片配置选项模块、程序存储器、数据存储器、外设模块、用户调试模式控制模块和MCU内核,所述用户调试模式控制模块分别连接程序存储器和MCU内核,MCU内核还分别连接程序存储器、外设模块和数据存储器,外设模块还连接芯片配置选项模块。
作为本发明的进一步方案:所述用户调试模式控制模块包括用户调试模式入口序列、用户调试模式出口序列、比较器C1、比较器C2、用户调试模式寄存器和用户调试模块控制逻辑模块。
作为本发明的进一步方案:所述外设模块是包含MCU所有外设的集合,UART模块是包含于外设集合中的一个子模块。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:通过复用MCU芯片中的UART模块的逻辑资源和通信端口,而不需要增加过多额外的逻辑资源、额外的通信接口以及通信端口即可以实现MCU芯片的用户调试功能,节省了用于实现用户调试模式的大部分逻辑资源,降低MCU芯片的生产成本。UART模块是MCU芯片中常用的外设之一,所以本方案具有较强的实用性。
附图说明:
图1为本发明的整体框图;
图2为用户调试模式控制模块的原理框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-2,一种实现MCU芯片的用户调试模式的方案,包括时钟产生模块、复位产生模块、芯片配置选项模块、程序存储器、数据存储器、外设模块、用户调试模式控制模块和MCU内核,所述用户调试模式控制模块分别连接程序存储器和MCU内核,MCU内核还分别连接程序存储器、外设模块和数据存储器,外设模块还连接芯片配置选项模块。
用户调试模式控制模块包括用户调试模式入口序列、用户调试模式出口序列、比较器C1、比较器C2、用户调试模式寄存器和用户调试模块控制逻辑模块。
外设模块是包含MCU所有外设的集合,UART模块是包含于外设集合中的一个子模块。
本发明的工作原理是:在本方案中,时钟产生模块(CLK_GEN)负责产生芯片工作所需要的工作时钟。复位产生模块(RST_GEN)负责产生芯片工作所需要的复位信号。MCU芯片通过UART模块与芯片外部进行串行通信。UART模块内部包括串行接收控制逻辑以及串行发送控制逻辑。串行接收控制逻辑负责完成串行通信调试的接收过程。串行发送控制逻辑负责完成串行通信调试的发送过程。使用MCU芯片的用户调试模式时,需要复用UART通信的两个单向通信端口。UART模块通过tx输出端口将芯片的数据输出至芯片外部的上位机。UART模块通过rx输入端口接收芯片外部的上位机输入的信息。
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