[发明专利]测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置和测量方法有效
| 申请号： | 201710009523.6 | 申请日： | 2017-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN106771767B | 公开（公告）日： | 2019-04-30 |
| 发明（设计）人： | 陆卫兵;刘震国 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 张华蒙 |
| 地址： | 210019 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置，属于微波测量技术领域，在圆形导轨上间距设置发射天线、第一接收天线和第二接收天线，在第一接收天线和第二接收天线之间设置待测电磁吸波器件或金属平板；在待测电磁吸波器件或金属平板外沿设置吸波材料；本发明的装置在测量电磁吸波器件其反射、透射性能时，通过分别测量空测条件下，放置电磁吸波器件条件下以及放置与吸波器件相同大小，相同位置的金属平板条件下的反射、透射系数，进行合理而简洁的数据处理，大幅度减小系统误差对测量结果的影响；本发明的测量方法相比于一般的弓形测试方法，对导轨的半径以及待测电磁吸波器件样品的尺寸要求降低，具有更广泛的适用性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 电磁 器件 反射 透射 性能 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置，其特征在于：包括圆形导轨(1)、发射天线(2)、第一接收天线(3)和第二接收天线(4)，在圆形导轨(1)上间距设置发射天线(2)、第一接收天线(3)和第二接收天线(4)，在用于接收反射波束(12)的第一接收天线(3)和用于接收透射波束(10)的第二接收天线(4)之间设置待测电磁吸波器件(5)或金属平板(6)；在所述的待测电磁吸波器件(5)或金属平板(6)外沿设置用于减小电磁绕射影响的吸波材料(8)。
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