[发明专利]测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置和测量方法

权利要求书

1.测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置，其特征在于：包括圆形导轨(1)、发射天线(2)、第一接收天线(3)和第二接收天线(4)，在圆形导轨(1)上间距设置发射天线(2)、第一接收天线(3)和第二接收天线(4)，在用于接收反射波束(12)的第一接收天线(3)和用于接收透射波束(10)的第二接收天线(4)之间设置待测电磁吸波器件(5)或金属平板(6)；在所述的待测电磁吸波器件(5)或金属平板(6)外沿设置用于减小电磁绕射影响的吸波材料(8)。

2.根据权利要求1所述的测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置，其特征在于：所述的待测电磁吸波器件(5)和金属平板(6)大小相同，且摆放位置一致。

3.根据权利要求1所述的测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置，其特征在于：所述的待测电磁吸波器件(5)的大小无需满足远场条件。

4.根据权利要求1所述的测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置，其特征在于：所述的圆形导轨(1)的半径无需满足远场条件。

5.权利要求1-4中任意一项所述的测量电磁吸波器件的反射和透射性能的装置的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：

1)反射系数的测量

在空测条件下，第一接收天线(3)会接收到来自发射天线(2)的杂散耦合信号(7)，使得测得的反射参数S11不为零，该杂散耦合信号7在测试待测电磁吸波器件(5)时依然会出现，记此时测得的反射系数为S11_空；

将与待测电磁吸波器件(5)相同大小的金属平板(6)放置在测试台上，此时第一接收天线(3)收到的信号包括由金属平板(6)反射回来的信号以及直接来自发射天线(2)的杂散耦合信号(7)，记此时测得的反射参数为S11_地，用S11_地-S11_空表示仅由金属平板(6)反射贡献的反射系数，以S11_地-S11_空作为反射系数归一化的单位1；

待测电磁吸波器件(5)放置在测试台上，保持与金属平板(6)位置相同，此时第一接收天线(3)收到的信号包括由待测电磁吸波器件(5)反射回来的信号以及直接来自发射天线(2)的杂散耦合信号(7)，记此时测得的反射参数为S11_测，用S11_测-S11_空表示仅由待测电磁吸波器件(5)反射贡献的反射系数，归一化的反射系数记为：

S11_归＝(S11_测-S11_空)/(S11_地-S11_空)；

2)透射系数的测量

在空测条件下，第二接收天线(4)收到的信号包括来自发射天线(2)的直射波束(9)以及绕射波束(11)，此绕射信号在测量待测电磁吸波器件(5)的透射系数时依然会出现，记此时测得的透射系数为S21_空；

将与待测电磁吸波器件(5)相同大小的金属平板(6)放置在测试台上，此时第二接收天线(4)会接受到来自发射天线(2)的绕射波束(11)，使得测得的透射系数不为零，记此时测得的透射系数为S21_地，用S21_空-S21_地表示仅由发射天线(2)直射到第二接收天线(4)的波束贡献的的透射系数，作为透射系数归一化的单位1；

待测电磁吸波器件(5)放置在测试台上保持与金属平板(6)位置相同，此时第二接收天线(4)收到的信号包括透过以及绕射过待测电磁吸波器件(5)的信号，记此时测得的透射系数为S21_测，用S21_测-S21_地表示仅由透过吸波器件的波束贡献的透射系数，归一化的透射系数记为：

S21_归＝(S21_测-S21_地)/(S21_空-S21_地)；

3)待测电磁吸波器件(5)吸收率的计算

待测电磁吸波器件(5)吸收率表示为：

A＝1-∣S11_归∣²-∣S21_归∣²。