[发明专利]检查装置、检查方法以及非接触式传感器有效
| 申请号： | 201680083325.8 | 申请日： | 2016-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN109952506B | 公开（公告）日： | 2022-12-27 |
| 发明（设计）人： | 小口京吾;小松隆史 | 申请（专利权）人： | 长野县;株式会社小松精机工作所 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宋开元 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供非接触式传感器(10)以及使用其的检查方法，通过激励线圈(13)、第一检测线圈(11)以及第二检测线圈(12)构成磁回路，并且将第一检测线圈(11)和第二检测线圈(12)在磁回路上对称地构成。检查装置(20)包括：第一输入部(21)，被输入来自第一检测线圈(11)的信号；第二输入部(22)，被输入来自第二检测线圈(12)的信号；差计算部(23)，计算来自第一输入部(21)的第一信号与来自第二输入部(22)的第二信号的差；信号处理部(24)，对通过差计算部(23)计算出的差信号进行处理；以及振荡部(25)，生成对激励线圈(13)的激励信号以及对信号处理部(24)的参照信号，能够高灵敏度且简便地判断有无检查对象物、与成为基准的标准的物体的异同等。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 方法 以及 接触 传感器 | ||
【主权项】：
1.一种检查装置，被安装有非接触式传感器，所述非接触式传感器包括激励线圈、第一检测线圈以及第二检测线圈，通过所述激励线圈、所述第一检测线圈以及所述第二检测线圈构成磁回路，所述第一检测线圈与所述第二检测线圈在磁回路上对称地构成，所述检查装置包括：第一输入部，被输入来自所述第一检测线圈的信号；第二输入部，被输入来自所述第二检测线圈的信号；差计算部，对来自所述第一输入部的第一信号与来自所述第二输入部的第二信号的差进行计算，信号处理部，对通过所述差计算部计算出的差信号进行处理；以及振荡部，生成对所述激励线圈的激励信号和对所述信号处理部的参照信号。
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